基于集成电路芯片数字设计文件的测试平台及测试系统技术方案

本发明专利技术提供一种基于集成电路芯片数字设计文件的测试开发平台及测试系统，通过在集成电路芯片和测试电路板的制造阶段引入FPGA模块以及中转电路板模块代替待测试芯片和测试板，通过下载线缆将待测试芯片的数字设计文件下载到FPGA模块内执行所述待测试芯片的待测试功能，再将所述FPGA模块通过所述高速线缆连接所述中转电路板模块，并将中转电路板模块连接至测试设备进行测试。本发明专利技术在集成电路芯片和测试板生产阶段，就可以根据具体设计完成部分的测试程序的调试，节省了调试时间，提高了芯片测试程序开发的整体速度。并且在增加尽可能少硬件的前提下，缓解工程矛盾以及满足市场需求。并且还具有通用型，可以在不同项目使用。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及集成电路芯片量产测试，特别是涉及一种基于集成电路芯片数字设计文件的测试平台及测试系统。

技术介绍

1、集成电路产品在发货给用户前，其中每一个都要经过全面的ate(自动测试机)测试。ate测试需要开发对应的测试程序。通常的做法是在集成电路芯片生产和测试电路板制造的同时，开发对应的离线测试程序。等到集成电路芯片出厂，同时测试电路板也制造完毕。再在真实的芯片上调试在线程序。

2、一方面由于市场驱动，需要尽快完成测试程序开发。目前市场上，一些出货量比较大的消费电子产品，上市前对测试程序的典型时间要求，已经缩短到以天来计算。另一方面，基于仿真开发的离线程序通常和真实芯片上的响应，会有比较大的差别。等到回片后，在真实芯片上调试，经常遇到问题。每次出问题，都需要重新仿真、更新向量、更新测试程序以及调试等，这样一次次的迭代不仅周期长，还容易出错，进而难以在短时间内得到收敛的测试程序以及很难满足后端市场需求。这是当前工程实践的一个突出问题。

技术实现思路

1、鉴于以上所述现有技术的缺点，本专利技术的目本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于集成电路芯片数字设计文件的测试平台，其特征在于，包括：FPGA模块、高速线缆以及中转电路板模块；

2.根据权利要求1中所述的基于集成电路芯片数字设计文件的测试平台，其特征在于，所述FPGA模块包括：程序下载单元、FPGA执行单元以及第一连接单元；其中，所述第一连接单元包括：多个高速接口；

3.根据权利要求1中所述的基于集成电路芯片数字设计文件的测试平台，其特征在于，所述中转电路板模块包括：第二连接单元，包括多个高速接口；

4.根据权利要求3中所述的基于集成电路芯片数字设计文件的测试平台，其特征在于，所述中转电路板模块还设有连接所述第二连接单...

【技术特征摘要】

1.一种基于集成电路芯片数字设计文件的测试平台，其特征在于，包括：fpga模块、高速线缆以及中转电路板模块；

2.根据权利要求1中所述的基于集成电路芯片数字设计文件的测试平台，其特征在于，所述fpga模块包括：程序下载单元、fpga执行单元以及第一连接单元；其中，所述第一连接单元包括：多个高速接口；

3.根据权利要求1中所述的基于集成电路芯片数字设计文件的测试平台，其特征在于，所述中转电路板模块包括：第二连接单元，包括多个高速接口；

4.根据权利要求3中所述的基于集成电路芯片数字设计文件的测试平台，其特征在于，所述中转电路板模块还设有连接所述第二连接单元中各高速接口的高速接口切换开关，用于切换不同的高速接口与所述fpga模块建立通信。

5.根据权利要求1中所述的基于集成电路芯片数字设计文件的测试平台，...

【专利技术属性】
技术研发人员：廖毅，张涌，
申请(专利权)人：芯原微电子上海股份有限公司，
类型：发明
国别省市：