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本发明提供一种基于集成电路芯片数字设计文件的测试开发平台及测试系统，通过在集成电路芯片和测试电路板的制造阶段引入FPGA模块以及中转电路板模块代替待测试芯片和测试板，通过下载线缆将待测试芯片的数字设计文件下载到FPGA模块内执行所述待测试芯...
该专利属于芯原微电子（上海）股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过芯原微电子（上海）股份有限公司授权不得商用。

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