【技术实现步骤摘要】
本申请涉及数据校正,更具体的说,本申请涉及一种in-cell液晶显示模组的测试数据校正方法及相关设备。
技术介绍
1、随着科学技术的不断进步和应用领域的不断拓展,数据在各个领域中扮演着越来越重要的角色,然而,由于测量设备、传感器等的精度限制以及外部环境的影响,采集到的原始数据往往存在一定程度的误差和偏差,为了确保数据的准确性和可靠性,数据校正技术应运而生,数据校正技术可以应用于各种数据采集和测量系统中,包括但不限于物理测量、环境监测、生物医学、工程控制等领域,数据校正通过对原始数据进行修正或调整,以消除或减小误差和偏差,进而提高数据的准确性和可信度的方法,为科学研究、工程设计和决策制定提供可靠的数据支持。
2、在现有技术中,首先,通过传感器、测量仪器或其他数据采集设备获取原始数据,其次,建立数学模型来描述数据采集过程中的误差或偏差,然后根据建立的数学模型,通过对比实际测量数据与已知的标准数据或校准数据之间的差异,确定校正参数,最后应用确定的校正参数对原始数据进行校正处理,然而,在液晶显示屏触摸测试中,手指离开触摸屏时产生的惯
...【技术保护点】
1.一种In-Cell液晶显示模组的测试数据校正方法,其特征在于,包括如下步骤:
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,确定目标液晶显示屏触摸测试时触摸点滑动响应过程中的响应趋势余量具体包括:
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,根据所述稳态段的滑动位置数据和所述滑动调和因子确定目标液晶显示屏触摸测试时触摸点滑动响应过程中的响应趋势余量具体包括:
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,确定所述测试数据拟合时拟合残差的重合频数具体包括:
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,确定所述测试匹配块组中匹配块间最小的测
...【技术特征摘要】
1.一种in-cell液晶显示模组的测试数据校正方法,其特征在于,包括如下步骤:
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,确定目标液晶显示屏触摸测试时触摸点滑动响应过程中的响应趋势余量具体包括:
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,根据所述稳态段的滑动位置数据和所述滑动调和因子确定目标液晶显示屏触摸测试时触摸点滑动响应过程中的响应趋势余量具体包括:
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,确定所述测试数据拟合时拟合残差的重合频数具体包括:
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,确定所述测试匹配块组中匹配块间最小的测试极差分量和最大的测试极差分量具体包括:
6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述测试匹配块组包含测试匹配样本块和测试匹配对比块。
<...【专利技术属性】
技术研发人员:蔡波勇,张丽萍,
申请(专利权)人:深圳市恒久瑞电子科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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