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本申请提供了一种In‑Cell液晶显示模组的测试数据校正方法及相关设备，获取历史测试数据；确定目标液晶显示屏触摸测试时触摸点滑动响应过程中的响应趋势余量，根据响应趋势余量从所述历史测试数据提取得到测试样本特征数据；获取当前测试数据，确定测试...
该专利属于深圳市恒久瑞电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市恒久瑞电子科技有限公司授权不得商用。

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