一种基于强化学习的散射介质聚焦调控方法及装置制造方法及图纸

技术编号:41701341 阅读:17 留言:0更新日期:2024-06-19 12:34
本发明专利技术涉及一种基于强化学习的散射介质聚焦调控方法及装置,方法包括:利用氦氖激光器生成准直扩束激光光束,通过空间光调制器对激光光束施加相位延迟量,结合CCD相机采集与散射介质相关的透射散斑图像;利用强化学习方法根据聚焦区域反馈的聚焦指标量搜索散斑聚焦所需相位延迟量,重复调制步骤实现散斑聚焦。与现有技术相比,本发明专利技术提出引入强化学习方法提高反馈聚焦调控效果,改善了传统反馈调制方法搜索波前调制相位容易陷入局部最优的问题,具有聚焦调控效果好等特点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及散射介质聚焦调控,尤其是涉及基于强化学习的散射介质聚焦调控方法及装置


技术介绍

1、由于透过散射介质的输出光场强度呈随机分布,导致输出光丢失了部分空间信息,对光传输造成一定的影响。近年来,国内外研究者们发现利用反馈调控的方法并结合空间光调制器可以使透射散斑聚焦。该方法通过实时反馈聚焦区域状态并利用算法调整输入波前相位最终获取一个较稳定的聚焦效果。散斑调控聚焦研究的发展改善了部分与之相关的光传输问题,对生物医学、激光质量等领域有积极意义。

2、目前调控方法研究主要针对透射式散斑进行聚焦调控,但现有调控方法搜索输入波前相位时容易陷入局部最优解。因此,如何进一步探索更优异的散斑聚焦调控方法是散斑调控聚焦领域中的重要问题。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于通过引入强化学习提高了反馈聚焦调控效果,解决了传统方法易陷入局部最优的问题,实现了更优的聚焦调控效果。该装置通过空间光调制器对输入散射介质前的氦氖激光进行波前相位调控,使透过散射介质形成的散斑图像随着波前相位的变化而变化。

<本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于强化学习的散射介质聚焦调控方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的基于强化学习的散射介质聚焦调控方法,其特征在于,步骤3包括以下步骤:

3.根据权利要求1所述的基于强化学习的散射介质聚焦调控方法,其特征在于,步骤8中基于更新后的强化学习算法,输出当前迭代后的强化学习算法搜索到的最佳波前相位,判断历史500次迭代奖励值是否连续波动不超过3%并实现散斑聚焦,如是则完成基于强化学习的反馈调控方法,否则进行步骤4。

4.根据权利要求1所述的基于强化学习的散射介质聚焦调控方法,其特征在于,所述空间光调制器包括透射式相位空间光调制器。...

【技术特征摘要】

1.一种基于强化学习的散射介质聚焦调控方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的基于强化学习的散射介质聚焦调控方法,其特征在于,步骤3包括以下步骤:

3.根据权利要求1所述的基于强化学习的散射介质聚焦调控方法,其特征在于,步骤8中基于更新后的强化学习算法,输出当前迭代后的强化学习算法搜索到的最佳波前相位,判断历史500次迭代奖励值是否连续波动不超过3%并实现散斑聚焦,如是则完成基于强化学习的反馈调控方法,否则进行步骤4。

4.根据权利要求1所述的基于强化学习的散射介质聚焦调控方法,其特征在于,所述空间光调制器包括透射式相位空间光调制器。

5.根据权利要求4所述的基于强化学习的散射介质聚焦调控方法,其特征在于,所述空间光调制的相位调制表示为:

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【专利技术属性】
技术研发人员:蔡敬辉张希仁
申请(专利权)人:电子科技大学
类型:发明
国别省市:

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