一种频谱仪测量功率标校方法及功率测量方法技术

技术编号:41696648 阅读:22 留言:0更新日期:2024-06-19 12:31
本发明专利技术涉及功率测量技术领域,特别涉及一种频谱仪测量功率标校方法及功率测量方法,其中频谱仪测量功率标校方法包括:确定频谱仪的测量温度,并将频谱仪及信号源均置于控温设备内,令控温设备提供的环境温度稳定至测量温度;监测频谱仪对信号源输出信号的功率读数,直至频谱仪的功率读数稳定,获取频谱仪的功率读数;利用功率计测定信号源输出信号的功率值;基于功率计测定的功率值和频谱仪对信号源输出信号的功率读数,通过功率标校,得到频谱仪的测量功率标校值。本发明专利技术能够对频谱仪测量功率值进行补偿,以得到更加准确的信号功率值。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及功率测量,特别涉及一种频谱仪测量功率标校方法及功率测量方法


技术介绍

1、功率计常用于测量功率,但使用场景受限,尤其是对脉冲信号功率测量时,动态范围常常无法满足使用要求。

2、采用频谱仪进行功率测量,具有动态范围大的优势。但频谱仪测量信号功率幅度准确度较低,难以满足测量要求。


技术实现思路

1、基于频谱仪功率测量结果准确性低的问题,本专利技术提供了一种频谱仪测量功率标校方法及功率测量方法,能够得到更加准确的信号功率值。

2、第一方面,本专利技术提供了一种频谱仪测量功率标校方法,采用信号源和控温设备实现,所述控温设备用于提供可控的环境温度,所述信号源通过射频线缆连接频谱仪,用于输出恒定的射频信号;

3、该频谱仪测量功率标校方法包括如下步骤:

4、确定频谱仪的测量温度,并将所述频谱仪及所述信号源均置于所述控温设备内,令所述控温设备提供的环境温度稳定至测量温度;

5、监测所述频谱仪对所述信号源输出信号的功率读数,直至所述频谱仪的功率读数稳定本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种频谱仪测量功率标校方法,其特征在于,采用信号源和控温设备实现,所述控温设备用于提供可控的环境温度,所述信号源通过射频线缆连接频谱仪,用于输出恒定的射频信号;

2.根据权利要求1所述的频谱仪测量功率标校方法,其特征在于,

3.根据权利要求2所述的频谱仪测量功率标校方法,其特征在于,

4.根据权利要求1所述的频谱仪测量功率标校方法,其特征在于,

5.根据权利要求4所述的频谱仪测量功率标校方法,其特征在于,还包括:

6.根据权利要求1所述的频谱仪测量功率标校方法,其特征在于,

7.根据权利要求1所述的频谱仪测量功率...

【技术特征摘要】

1.一种频谱仪测量功率标校方法,其特征在于,采用信号源和控温设备实现,所述控温设备用于提供可控的环境温度,所述信号源通过射频线缆连接频谱仪,用于输出恒定的射频信号;

2.根据权利要求1所述的频谱仪测量功率标校方法,其特征在于,

3.根据权利要求2所述的频谱仪测量功率标校方法,其特征在于,

4.根据权利要求1所述的频谱仪测量功率标校方法...

【专利技术属性】
技术研发人员:李万珅沈小玲冯孝斌王晓刘胤凯赵琳李熙民王子豪张云张达凯
申请(专利权)人:北京环境特性研究所
类型:发明
国别省市:

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