【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于对在可见波长范围内至少部分被液体遮挡的结构进行成像的装置、方法和计算机程序产品。
技术介绍
1、本文提供的“背景”描述是为了总体上呈现本公开的上下文。在本
技术介绍
部分中描述的程度上,当前命名的专利技术人的工作以及在提交时可能不被认为是现有技术的描述的方面既不明确地也不隐含地被认为是针对本专利技术的现有技术。
2、近来,图像捕捉设备有了显著的发展。现在,使用图像捕捉设备,以便获得各种不同环境中的物体和场景的图像。通常,使用这些图像捕捉设备捕捉图像以便获得关于被成像的物体和场景的信息,可以使用该信息来帮助用户或设备(例如,机器人设备)执行给定任务。
3、例如,可以在外科手术或过程中使用图像捕捉设备,以便获得患者的图像,该图像可以帮助人员(例如,外科医生)进行手术。此外,可以使用成像设备来勘测场景或环境(作为工程项目等的一部分)。
4、这样,项目或过程的优化进展可能取决于由图像捕捉设备获得的图像(以及可以从这些图像中获得的信息)。
5、然而,在某些情况下,可能难以使用图像捕捉设
...【技术保护点】
1.一种获取用于对在可见波长范围内至少部分被液体遮挡的结构进行成像的光的波长和偏振状态的装置,所述装置包括:
2.根据权利要求1所述的装置,其中,所述图像捕捉设备被配置为测量波长在400nm到1700nm范围内的光的强度。
3.根据权利要求1所述的装置,其中,所述光源包括多个发光二极管和/或滤色器,用于生成所述至少一个预定的波长和偏振状态的光的序列。
4.根据权利要求1所述的装置,其中,所述电路被配置为通过从所述预定的波长和偏振状态当中确定提供了所述液体对光的最小的散射、反射和吸收的光的波长和偏振状态,来获取所述光的所述波长和偏振状
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【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种获取用于对在可见波长范围内至少部分被液体遮挡的结构进行成像的光的波长和偏振状态的装置,所述装置包括:
2.根据权利要求1所述的装置,其中,所述图像捕捉设备被配置为测量波长在400nm到1700nm范围内的光的强度。
3.根据权利要求1所述的装置,其中,所述光源包括多个发光二极管和/或滤色器,用于生成所述至少一个预定的波长和偏振状态的光的序列。
4.根据权利要求1所述的装置,其中,所述电路被配置为通过从所述预定的波长和偏振状态当中确定提供了所述液体对光的最小的散射、反射和吸收的光的波长和偏振状态,来获取所述光的所述波长和偏振状态。
5.根据权利要求1所述的装置,其中,所述光源设置在所述液体的与所述图像捕捉设备和所述偏振检测单元相对的一侧,并且其中,来自所述液体的光是来自所述光源的由所述液体透射的光。
6.根据权利要求1所述的装置,其中,所述光源设置在所述液体的与所述图像捕捉设备和所述偏振检测单元相同的一侧;其中,所述装置还包括浸没在所述液体中的反射单元;并且其中,来自所述液体的光是来自所述光源的从所述反射单元反射的穿过所述液体的光。
7.一种用于对在可见波长范围内至少部分被液体遮挡的结构进行成像的装置,所述装置包括:
8.根据权利要求7所述的装置,其中,所...
【专利技术属性】
技术研发人员:马蒂亚斯·辛泽尔,佐尔坦·法丘斯,
申请(专利权)人:索尼集团公司,
类型:发明
国别省市:
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