量子比特弛豫时间的确定方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种量子比特弛豫时间的确定方法及装置，涉及量子计算机领域，其中确定方法包括：获取Ramsey实验数据的数据集；确定所述数据集中实验数据的周期并根据所述周期确定滑动窗口的大小；利用三角周期函数模型对所述数据集内每个滑动窗口内的子实验数据进行拟合得到每个所述子实验数据的第一标准差；提取第一标准差小于或等于第一预设值的所有子实验数据得到训练集；利用周期性衰减函数模型对所述训练集拟合得到量子比特弛豫时间；该方法以滑动窗口为单位利用三角周期函数模型对实验数据进行拟合，最终得到精确的训练集，再通过训练集训练周期性衰减函数模型，最后通过高精度的周期性衰减函数模型就能够得到高精度的量子比特弛豫时间。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及量子计算机领域，尤其是涉及一种量子比特弛豫时间的确定方法及装置。

技术介绍

1、量子比特的弛豫时间是量子比特重要的性能表征指标，量子芯片测试的过程中一般通过ramsey实验来测量量子比特的弛豫时间，现有的测量方案是直接通过拟合函数对实验数据进行拟合，该方案以固定采样周期为单位拟合点，容易错漏掉周期内的最优点，而且现有的拟合方案是一次性拟合，无法精准的确定拟合函数模型的拟合参数，从而导致拟合精度差，无法精确的测量量子比特的弛豫时间。

技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提供一种高精度的量子比特弛豫时间测量方案。

2、为了实现上述目的，本专利技术一方面提供一种量子比特弛豫时间的确定方法，包括：

3、获取ramsey实验数据的数据集；

4、确定所述数据集中实验数据的周期并根据所述周期确定滑动窗口的大小；

5、利用三角周期函数模型对所述数据集内每个滑动窗口内的子实验数据进行拟合得到每个所述子实验数据的第一标准差；

6、提取第一标准差小于或等于本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种量子比特弛豫时间的确定方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的确定方法，其特征在于，确定所述数据集中实验数据的周期并根据所述周期确定滑动窗口的大小，包括：

3.根据权利要求1所述的确定方法，其特征在于：所述第一预设值小于或等于0.5。

4.根据权利要求1所述的确定方法，其特征在于：其中所述滑动窗口的大小大于或等于所述实验数据的最大周期。

5.根据权利要求1所述的确定方法，其特征在于，利用周期性衰减函数模型对所述训练集拟合得到量子比特弛豫时间，包括：

6.根据权利要求5所述的确定方法，其特征在于，所述第二预设值小...

【技术特征摘要】

1.一种量子比特弛豫时间的确定方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的确定方法，其特征在于，确定所述数据集中实验数据的周期并根据所述周期确定滑动窗口的大小，包括：

3.根据权利要求1所述的确定方法，其特征在于：所述第一预设值小于或等于0.5。

4.根据权利要求1所述的确定方法，其特征在于：其中所述滑动窗口的大小大于或等于所述实验数据的最大周期。

5.根据权利要求1所述的确定方法，其特征在于，利用周期性衰减函数模型对所述训练集拟合得到量子比特弛豫时间，包括：

6.根据权利要求5所述的确定方法，其特征在于，所述第二预设值小于或等于0.5。

7.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，孔伟成，
申请(专利权)人：本源量子计算科技合肥股份有限公司，
类型：发明
国别省市：