【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体检测，更具体地说，涉及一种碳化硅动态检测仪。
技术介绍
1、半导体器件是许多设备都会用到的器件，最常见的碳化硅半导体器件就是晶体管，碳化硅晶体管具有阻断电压高、导通压降低、关断时间短以及耐高温等一系列优势，在电力电子器件的应用场合占据了非常大的优势。
2、为检测半导体内部的元件功能，传统的半导体检测夹具上通常布置有检测线路，待半导体产品被夹具夹持固定后，该检测线路与半导体上的导电触点接触，此时半导体在夹具上则可通过检测仪器的端子(如金属探针)接触从而作模拟试验或检测，继而该检测仪器则能获取半导体产品的相关检测数据，
3、授权公告号：cn217639371u的中国专利公开了一种半导体动态检测设备，通过在检测底座的上端设置可升降的u型检测架，并在u型检测架内设置多个不同类型的测试触头本体至竖直朝下，并通过快速锁止测试触头本体竖直朝下的状态，便于完成单个性能参数的测试，有利于简化测试操作过程，提升了测试效率。
4、上述专利虽然提高了测试效率，但仍存在以下不足之处：
5、由于半...
【技术保护点】
1.一种碳化硅动态检测仪，其特征在于：包括工作台(1)；
2.根据权利要求1所述的一种碳化硅动态检测仪，其特征在于：所述上滑槽与下滑槽远离电动滑轨(2)一侧的侧壁上分别开设有上气孔和下气孔，所述上导向杆(3)与下导向杆(4)上分别开设有与上气孔和下气孔连通的上安装槽和下安装槽，所述工作台(1)的顶壁上固定安装有气泵(11)，所述气泵(11)的排气口上固定安装有三通管(12)，所述三通管(12)的第一输出端与第二输出端分别贯穿上安装槽和下安装槽，且所述三通管(12)的第一输出端与第二输出端分别与上气孔和下气孔连通。
3.根据权利要求2所述的一种碳...
【技术特征摘要】
1.一种碳化硅动态检测仪，其特征在于：包括工作台(1)；
2.根据权利要求1所述的一种碳化硅动态检测仪，其特征在于：所述上滑槽与下滑槽远离电动滑轨(2)一侧的侧壁上分别开设有上气孔和下气孔，所述上导向杆(3)与下导向杆(4)上分别开设有与上气孔和下气孔连通的上安装槽和下安装槽，所述工作台(1)的顶壁上固定安装有气泵(11)，所述气泵(11)的排气口上固定安装有三通管(12)，所述三通管(12)的第一输出端与第二输出端分别贯穿上安装槽和下安装槽，且所述三通管(12)的第一输出端与第二输出端分别与上气孔和下气孔连通。
3.根据权利要求2所述的一种碳化硅动态检测仪，其特征在于：所述上滑槽的底壁与下滑槽的顶壁上均开设有插孔，且两个所述插孔分别与上安装槽和下安装槽连通，且所述滑块(5)的顶壁与底壁上对称固定安装有与插孔配合的挡板(13)。
4.根据权利要求3所述的一种碳化硅动态检测仪，其特征在于：所述三通管(12)包括进气管(1201)、单向阀(1202)和两个排气管(1203)，两个所述排气管(1203)均固定安装在单向阀(1202)的输出端上，所述进气管(1201)固定安装在单向阀(1202)的输入端上，所述进气管(1201)远离单向阀(1202)的一端与气泵(11)的排气口连通，且所述气泵(11)排气口的直径与进气管(1201)直径之比为5：1；
5.根据权利要求4所述的一种碳化硅动态检测仪，其特征在于：所述工作台(1)的顶壁与滑块(5)之间固定...
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