【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于激光传感器弧面测量，尤其涉及一种tof技术测量数据的校正方法方法、装置及存储介质。
技术介绍
1、现有的通过激光传感器测量大型弧形标准面大多采用多点检测法，生成折现图反应标准面的弯曲幅度和扭曲程度，对弧形标准面的还原度较差，存在着精度低，无法满足人们的使用需求等问题。
技术实现思路
1、鉴于上述现有技术的不足，本专利技术的目的在于提供一种tof技术测量数据的校正方法、装置及存储介质，旨在解决由于现有技术无法提供一种有效的tof技术测量数据的校正方法，导致对弧面测量不准确、用户体验不佳的问题。
2、一方面，本专利技术提供了一种tof技术测量数据的校正方法，所述方法包括下述步骤：
3、步骤一：在待测量弧形面的一端外横向设置第一线激光发射器和竖向设置反射镜，以及在所述待测量弧形面的另一端外放置移动块；所述移动块上横向设有第一ccd相机和线激光传感器，所述第一线激光发射器的中心正对所述第一ccd相机的中心；
4、步骤二：一步一动移动所述移动块从所述...
【技术保护点】
1.一种TOF技术测量数据的校正方法，其特征在于，所述方法包括下述步骤：
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述反射镜与所述线激光传感器之间的距离根据公式1获得；
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：对所述点云数据进行多个不同位置的正平面剖切获得多个点云数据线；
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述起始偏移量根据公式2获取；
6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述下一点坐标坐标用P（XP,YP）表示；
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