【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光学扫描测量，具体涉及一种基于运动路径规划的叶片测量方法和光学扫描设备。
技术介绍
1、利用光学设备进行三维扫描主要是对物体的空间外形进行非接触式测量，以获得物体表面的空间坐标，具有测量速度快和获取的测量信息多等优点。使用关节臂测量机进行外形轮廓检测时，还可通过更换硬测头和光学测头，以实现不同测量模式的转换。使用设有光学测头的关节臂测量机对叶片类部件的复杂曲面进行测量，当光学测头在测量叶片类部件曲面的同一点时，光学测头的位置很容易变化，使得扫描光线的起始点对曲面上同一点的入射角度和入射距离一般不同，导致测量结果经常出现偏差。
技术实现思路
1、因此，本专利技术要解决的技术问题在于克服使用设有光学测头的关节臂测量机对叶片类部件的复杂曲面进行测量，当光学测头在测量叶片类部件曲面的同一点时，光学测头的位置很容易变化，使得扫描光线的起始点对曲面上同一点的入射角度和入射距离一般不同，导致测量结果经常出现偏差的缺陷。
2、为了解决上述问题，本专利技术提供一种基于运动路径规划的...
【技术保护点】
1.一种基于运动路径规划的叶片测量方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的基于运动路径规划的叶片测量方法，其特征在于，
3.根据权利要求1所述的基于运动路径规划的叶片测量方法，其特征在于，
4.根据权利要求1所述的基于运动路径规划的叶片测量方法，其特征在于，所述第一弧长距离为光学扫描设备的纵向视野高度；所述第二弧长距离为光学扫描设备的横向视野宽度。
5.根据权利要求1所述的基于运动路径规划的叶片测量方法，其特征在于，利用光学扫描设备进行测量扫描时，首先从待测叶片模板(1)或待测叶片一侧的靠近尾缘(12)的测量参...
【技术特征摘要】
1.一种基于运动路径规划的叶片测量方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的基于运动路径规划的叶片测量方法，其特征在于，
3.根据权利要求1所述的基于运动路径规划的叶片测量方法，其特征在于，
4.根据权利要求1所述的基于运动路径规划的叶片测量方法，其特征在于，所述第一弧长距离为光学扫描设备的纵向视野高度；所述第二弧长距离为光学扫描设备的横向视野宽度。
5.根据权利要求1所述的基于运动路径规划的叶片测量方法，其特征在于，利用光学扫描设备进行测量扫描时，首先从待测叶片模板(1)或待测叶片一侧的靠近尾缘(12)的测量参考位置点向靠近前缘(11)的测量参考位置点测量扫描，然后，再转向待测叶片模板(1)或待测叶片的另一侧，从靠近叶片前缘(11)的测量参考位置点向靠近尾缘(12)的测量参考位置点测量扫描；所述一...
【专利技术属性】
技术研发人员：于飞龙，肖俊峰，张浩浩，何伟，张蒙，伍赫，李园园，段静瑶，
申请(专利权)人：西安热工研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：
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