【技术实现步骤摘要】
本技术涉及测试座，具体领域为一种多功能老化测试座。
技术介绍
1、随着，电子产品行业的不断发展，对bga、lga电子元件的需求量在日益增加，对bga、lga电子元件的性能要求也越来越高。为了确保bga、lga 元件的使用性能，通常会将bga、lga元件放入测试座对进行测试筛选及老化实验，以得到符合使用标准的bga、lga元件。然而，目前bga、lga元件生产行业中所采用的元件测试座，由于其导热部件与测试元件的接触性差，使得现有的测试座存在导热性能差的问题，导致测试元件在测试中易出现温度过高而损坏，严重的影响了元件测试的效率和准确性。
2、现有技术如中国专利：一种自动散热的老化测试座，公告号cn217470634u通过在金属框架盖板的中部设置的与金属框架底板的通腔相对应的通孔内设置的压缩式导热机构，能实现导热部件与测试元件的充分接触，可使导热机构对bga元件的热量进行有效的释放，确保了bga元件不会出现温度过高的现象，然而该测试座的测试腔的尺寸固定，不能灵活的应对不同尺寸bga元件的测试，针对不同尺寸的bga元件需要不同的带相...
【技术保护点】
1.一种多功能老化测试座，包括上盖（3）、底座（5）、凸台（7）和框架销（71），凸台（7）设于底座（5）上，上盖（3）的左端与凸台（7）通过框架销（71）活动连接，底座（5）上开设有测试腔，测试腔内设有探针，其特征在于：该测试座还包括浮动压板（4）和连接件；所述浮动压板（4）通过连接件与上盖（3）活动连接；浮动压板（4）设于上盖（3）与底座（5）之间且浮动压板（4）与测试腔位置对应。
2.根据权利要求1所述的一种多功能老化测试座，其特征在于：所述连接件包括台阶螺钉（9）；所述上盖（3）上开设有容置孔（32）；容置孔（32）内侧设有限位环；所述台阶螺钉（9...
【技术特征摘要】
1.一种多功能老化测试座，包括上盖（3）、底座（5）、凸台（7）和框架销（71），凸台（7）设于底座（5）上，上盖（3）的左端与凸台（7）通过框架销（71）活动连接，底座（5）上开设有测试腔，测试腔内设有探针，其特征在于：该测试座还包括浮动压板（4）和连接件；所述浮动压板（4）通过连接件与上盖（3）活动连接；浮动压板（4）设于上盖（3）与底座（5）之间且浮动压板（4）与测试腔位置对应。
2.根据权利要求1所述的一种多功能老化测试座，其特征在于：所述连接件包括台阶螺钉（9）；所述上盖（3）上开设有容置孔（32）；容置孔（32）内侧设有限位环；所述台阶螺钉（9）设于容置孔（32）内，台阶螺钉（9）的螺杆的外径与限位环的内径相适配；台阶螺钉（9）的螺杆与浮动压板（4）固接。
3.根据权利要求1所述的一种多功能老化测试座，其特征在于：所述测试座还包括旋钮（1）和螺纹铜柱（2）；所述旋钮（1）设于上盖（3）的上侧且与螺纹铜柱（2）的顶部固接；所述螺纹铜柱（2）贯穿上盖（3）设置且螺纹铜柱（2）与上盖（3）为螺纹连接；测试时，所述螺纹铜柱（2）下端与浮动压板（4）的上端抵接。
4.根据权利要求2所述的一种多功能老化测试座，其特征在于：所述浮动压板（4）具有压板本体（41）、散热板（42）和散热条（412）；所述台阶螺钉（9）的螺杆与压板本体（41）固接；所述散热板（4...
【专利技术属性】
技术研发人员：张永飞，宋盼，陆军奎，
申请(专利权)人：金华市淖悦精密科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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