【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光学镜片组参数测量的，尤其涉及到一种低成本高精度的光学镜片组参数测量方法及系统。
技术介绍
1、在制造业快速发展的今天，各类光学元器件在工业领域中广泛应用，研究人员对光学镜片的各项高性能指标的要求也在不断提高。为此，市场对高精度高标准的镜片规格的需求不断扩大，并推动着光学镜片检测技术的不断发展。但是，目前市面上的大部分检测技术针对的是单次测量一个镜片的各项性能指标，无法做到透视测量多个镜片，效率低下。
2、常规检测镜片的方案有：接触式表面三位维轮廓测量法、激光三角测量法、结构光测量法。
3、接触式表面三位维轮廓测量法是探测头靠机械装置驱动进行逐点扫描测量，精度可达到纳米级。但是测量时间长，容易给被测件造成损伤。
4、激光三角测量法是用线光源投射到待测件表面上，被测物体沿着光源轴向移动，再通过光源与被测件和采集设备的几何关系，获取被测件表面的三维轮廓信息。
5、结构光测量法是将光源以一定角度投射向被测物体表面，这些光在被测物表面反射形成特征点，再根据标定出的空间坐标系及相关参数...
【技术保护点】
1.一种低成本高精度的光学镜片组参数测量方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种低成本高精度的光学镜片组参数测量方法，其特征在于，功率谱的计算公式如下：
3.根据权利要求2所述的一种低成本高精度的光学镜片组参数测量方法，其特征在于，基于功率谱-频率图求取光学镜片组每个光学镜片前后表面的相位，包括：
4.根据权利要求1所述的一种低成本高精度的光学镜片组参数测量方法，其特征在于，当光学镜片组包括光楔时，结合非线性最小二乘法拟合方程和解包裹后的数据求取光楔参数，包括：
5.根据权利要求1所述的一种低成本高精度的光...
【技术特征摘要】
1.一种低成本高精度的光学镜片组参数测量方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种低成本高精度的光学镜片组参数测量方法，其特征在于，功率谱的计算公式如下：
3.根据权利要求2所述的一种低成本高精度的光学镜片组参数测量方法，其特征在于，基于功率谱-频率图求取光学镜片组每个光学镜片前后表面的相位，包括：
4.根据权利要求1所述的一种低成本高精度的光学镜片组参数测量方法，其特征在于，当光学镜片组包括光楔时，结合非线性最小二乘法拟合方程和解包裹后的数据求取光楔参数，包括：
5.根据权利要求1所述的一种低成本高精度的光学镜片组参数测量方法，其特征在于，当光学镜片组包括平凸透镜时，结合非线性最小二乘法拟合方程和解包裹后的数据求取平...
【专利技术属性】
技术研发人员：裘昊，白玉磊，董博，何昭水，谢胜利，
申请(专利权)人：广东工业大学，
类型：发明
国别省市：
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