提供IC芯片、摄像机模块以及位置控制系统。在探测可动体在多个轴上的位置时能够校正由其它轴上的位置产生的影响。IC芯片具备：多个磁传感器，检测与可动体在第一和第二方向上的位置相应的磁场；第一位置信息设定部，根据探测的磁场计算可动体在第一方向上的相对于第一驱动范围的第一相对位置；第二位置信息设定部，根据探测的磁场计算可动体在第二方向上的相对于第二驱动范围的第二相对位置；第一目标位置调整部，计算第一驱动范围内的第一目标位置；第二目标位置调整部，计算第二驱动范围内的第二目标位置，第一位置信息设定部和第一目标位置调整部基于第二相对位置和第二目标位置中的至少一方校正第一相对位置和第一目标位置中的至少一方。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种ic(集成电路：integrated circuit)芯片、摄像机模块以及位置控制系统。
技术介绍
1、已知有用于探测可动体在多个轴上的位置的致动器、透镜驱动装置、透镜控制装置、摄像机模块以及位置检测装置。(参照专利文献1、2以及3)。
2、现有技术文献
3、专利文献
4、专利文献1：国际公开第2021/065679号
5、专利文献2：日本特开2019-120747号公报
6、专利文献3：日本专利第6695898号公报
7、专利文献4：日本特开2021-051277号公报
8、专利文献5：日本特开2012-103497号公报
9、专利文献6：日本特开2007-114121号公报
技术实现思路
1、专利技术要解决的问题
2、优选的是，在探测可动体在多个轴上的位置的情况下，能够校正由除探测轴以外的其它轴上的位置产生的影响。
3、用于解决问题的方案
>4、在本专利技术的本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种集成电路芯片，用于检测包括光学元件的可动体在第一方向和第二方向上的位置，并将所述可动体沿所述第一方向和所述第二方向驱动，所述集成电路芯片的特征在于，具备：
2.根据权利要求1所述的集成电路芯片，其特征在于，还具备：
3.根据权利要求1所述的集成电路芯片，其特征在于，
4.根据权利要求1所述的集成电路芯片，其特征在于，
5.根据权利要求1所述的集成电路芯片，其特征在于，
6.根据权利要求1所述的集成电路芯片，其特征在于，
7.根据权利要求1所述的集成电路芯片，其特征在于，
8.根据权利要求1所述的集...
【技术特征摘要】
1.一种集成电路芯片，用于检测包括光学元件的可动体在第一方向和第二方向上的位置，并将所述可动体沿所述第一方向和所述第二方向驱动，所述集成电路芯片的特征在于，具备：
2.根据权利要求1所述的集成电路芯片，其特征在于，还具备：
3.根据权利要求1所述的集成电路芯片，其特征在于，
4.根据权利要求1所述的集成电路芯片，其特征在于，
5.根据权利要求1所述的集成电路芯片，其特征在于，
6.根据权利要求1所述的集成电路芯片，其特征在于，
7.根据权利要求1所述的集成电路芯片，其特征在于，
8.根据权利要求1所述的集成电路芯片，其特征在于，
9.根据权利要求1所述的集成电路芯片，其特征在于，
10.根据权利要求9所述的集成电路芯片，其特征在于，
11.根据权利要求1所述的集成电路芯片，其特...
【专利技术属性】
技术研发人员：冈田启太，北元裕树，
申请(专利权)人：旭化成微电子株式会社，
类型：发明
国别省市：
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