一种漏苗检测和定位的方法、设备及存储介质技术

技术编号:41520792 阅读:24 留言:0更新日期:2024-05-30 14:56
本发明专利技术公开了一种漏苗检测和定位的方法、设备及存储介质,包括步骤:S1:标注样本、S2:训练检测模型、S3:位置标定、S4:使用过程、S5:计算漏苗率和S6:结果输出;本发明专利技术通过图像深度学习技术对水稻苗进行实时监控检测,利用图像深度学习技术对水稻苗进行实时监控检测,计算水稻苗漏苗比例以及漏苗所在位置,从而可以人工补苗,再并计算漏苗比例,可以帮助农民或操作人员及时了解水稻苗的生长情况,及早采取相应的措施,以提高水稻种植的效率和产量,能够准确地确定漏苗位置并计算漏苗率,为农业生产提供有效的决策支持,从而提高农作物的产量和质量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及农业,具体是一种漏苗检测和定位的方法、设备及存储介质


技术介绍

1、水稻种植通常需要这样的步骤:选种、育苗、插秧、田间管理、收割和加工,其中插秧目前很多地方都是使用插秧机自动插秧,但是机器会出现漏插的现象,针对这样的漏插现象,在插秧机上安装相机进行图像检测,得到漏苗率以及漏苗位置,从而人工插秧。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提供一种漏苗检测和定位的方法、设备及存储介质,利用图像深度学习技术对水稻苗进行实时监控检测,计算水稻苗漏苗比例以及漏苗所在位置,从而可以人工补苗。

2、本专利技术的目的可以通过以下技术方案实现:

3、本申请提供了一种漏苗检测和定位的方法,包括如下步骤:

4、s1:标注样本,人工标注水稻苗在田里的样本,获取水稻苗在图像中的位置;

5、s2:训练检测模型,收集大量人工标注的样本后,使用阈值二值化或深度学习的分割算法训练一个分割模型,模型能够准确地分割出水稻苗在图像中的位置;

6、s3:位置标定,在插秧机上搭载本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种漏苗检测和定位的方法,其特征在于:包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种漏苗检测和定位的方法,其特征在于:根据步骤S1所述的标注样本,使用二值化分割或深度学习的分割方法,包括:

3.根据权利要求1所述的一种漏苗检测和定位的方法,其特征在于:根据步骤S2所述的检测模型,采用阈值二值化或deeplab v3算法,进行数据准备,收集大量人工标注样本,包含水稻苗的图像以及对应的像素级标注;再进行模型训练,使用标注好的样本数据对深度学习的分割模型进行训练,通过学习图像特征和像素级标注之间的关系,使模型能够准确地分割出水稻苗的区域;最后进行模型推理,将预处理后的...

【技术特征摘要】

1.一种漏苗检测和定位的方法,其特征在于:包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种漏苗检测和定位的方法,其特征在于:根据步骤s1所述的标注样本,使用二值化分割或深度学习的分割方法,包括:

3.根据权利要求1所述的一种漏苗检测和定位的方法,其特征在于:根据步骤s2所述的检测模型,采用阈值二值化或deeplab v3算法,进行数据准备,收集大量人工标注样本,包含水稻苗的图像以及对应的像素级标注;再进行模型训练,使用标注好的样本数据对深度学习的分割模型进行训练,通过学习图像特征和像素级标注之间的关系,使模型能够准确地分割出水稻苗的区域;最后进行模型推理,将预处理后的图像输入已训练好的深度学习分割模型,通过前向传播得到水稻苗的像素级分割结果。

4.根据权利要求1所述的一种漏苗检测和定位的方法,其特征在于:根据步骤s3所述的标定相机内参与相机到rtk设备之间的相对位置关系,在相机坐标系下,设定三维点p=[x,y,z]被投影到图像平面上...

【专利技术属性】
技术研发人员:张上鑫吴帆臧广义韦瑞新莫哲
申请(专利权)人:深圳市纬尔科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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