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本发明公开了一种漏苗检测和定位的方法、设备及存储介质，包括步骤：S1：标注样本、S2：训练检测模型、S3：位置标定、S4：使用过程、S5：计算漏苗率和S6：结果输出；本发明通过图像深度学习技术对水稻苗进行实时监控检测，利用图像深度学习技术对...
该专利属于深圳市纬尔科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市纬尔科技有限公司授权不得商用。

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