显示基板及其制备方法、显示装置制造方法及图纸

技术编号:41516116 阅读:22 留言:0更新日期:2024-05-30 14:53
一种显示基板及其制备方法、显示装置。该显示基板包括衬底基板、子像素单元、数据线、扫描线、多个测试接触垫周边区第一绝缘层以及辅助电极层。衬底基板包括显示区以及周边区,周边区包括测试邦定区。多个测试接触垫每个包括第一测试接触垫金属层以及第二测试接触垫金属层,第二测试接触垫金属层覆盖所述第一测试接触垫金属层且至少在第一测试接触垫金属层的至少部分周边与第一测试接触垫金属层接触,辅助电极层包括位于测试邦定区中的多个第一转接电极图案以及位于显示区中的多个辅助电极。

【技术实现步骤摘要】

本公开的实施例涉及一种显示基板及其制备方法、显示装置


技术介绍

1、在显示行业,随着显示技术的不断发展,柔性有机发光二极管(柔性oled,flexible organic light-emitting diode)的市场越来越大。在柔性有机发光二极管中占重要地位的amoled(active-matrix organic light-emitting diode,有源矩阵有机发光二极管)得到了普遍的应用。amoled的一般工艺通常包括阵列制备工艺、蒸镀发光材料工艺、切割工艺、模组工艺等。点灯测试工序在切割工艺之后进行,测试探针通过测试邦定区中的接触垫给入测试信号,通过测试单元检测黑白条画面、单色以及灰阶画面等,从而提供显示性能的等级,进而提升产品良率。


技术实现思路

1、本公开至少一实施例提供一种显示基板,该显示基板包括:衬底基板、子像素单元、数据线、扫描线、多个测试接触垫以及周边区第一绝缘层。衬底基板包括显示区以及至少围绕显示区的周边区,所述周边区包括位于所述显示区一侧的测试邦定区;子像素单元位于所述显示区本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种显示基板,包括:

2.根据权利要求1所述的显示基板,其中,所述多个测试接触垫中的至少一个测试接触垫包括第一测试接触垫金属层和第二测试接触垫金属层,所述第二测试接触垫金属层位于所述第一测试接触垫金属层远离所述衬底基板的一侧,所述第二测试接触垫金属层覆盖所述第一测试接触垫金属层且至少在所述第一测试接触垫金属层的至少部分周边与所述第一测试接触垫金属层的侧面接触;

3.根据权利要求1所述的显示基板,其中,所述多个测试接触垫中的至少一个测试接触垫是具有第一测试接触垫金属层的单层结构;

4.根据权利要求2所述的显示基板,其中,所述子像素单元包括像素结构,所...

【技术特征摘要】

1.一种显示基板,包括:

2.根据权利要求1所述的显示基板,其中,所述多个测试接触垫中的至少一个测试接触垫包括第一测试接触垫金属层和第二测试接触垫金属层,所述第二测试接触垫金属层位于所述第一测试接触垫金属层远离所述衬底基板的一侧,所述第二测试接触垫金属层覆盖所述第一测试接触垫金属层且至少在所述第一测试接触垫金属层的至少部分周边与所述第一测试接触垫金属层的侧面接触;

3.根据权利要求1所述的显示基板,其中,所述多个测试接触垫中的至少一个测试接触垫是具有第一测试接触垫金属层的单层结构;

4.根据权利要求2所述的显示基板,其中,所述子像素单元包括像素结构,所述像素结构包括:

5.根据权利要求1所述的显示基板,其中,所述第一转接电极图案在所述测试接触垫上的远离所述衬底基板的表面与所述第一转接电极图案在所述测试接触垫周边的远离所述衬底基板的表面,在垂直于所述衬底基板的方向上的膜层段差的取值范围为1.0微米至1.5微米。

6.根据权利要求2所述的显示基板,其中,所述第二测试接触垫金属层完全覆盖所述第一测试接触垫金属层且在所述第一测试接触垫金属层的周边与所述第一测试接触垫金属层直接接触。

7.根据权利要求4所述的显示基板,其中,所述像素驱动电路还包括栅极、两个源漏电极及层间绝缘层,所述层间绝缘层位于所述栅极远离所述衬底基板的一侧且位于所述两个源漏电极靠近所述衬底基板一侧,

8.根据权利要求1所述的显示基板,其中,所述周边区第一绝缘层远离所述衬底基板一侧的表面距离所述衬底基板的垂直距离大于所述多个测试接触垫的远离所述衬底基板一侧的表面距离所述衬底基板的垂直距离。

9.根据权利要求1所述的显示基板,其中,所述多个测试接触垫平行排布为一行,

10.根据权利要求1所述的显示基板,其中,所述显示基板还包括扫描线,所述扫描线位于所述显示区中,且被配置为向所述子像素单元提供控制信号;

11.根据权利要求4所述的显示基板,还包括位于所述显示区的显示区第一绝缘层,

12.根据权利要求2、4和6中任一项所述的显示基板,还包括标记金属层,其中,所述标记金属层位于所述周边区第一绝缘层的靠近所述衬底基板的一侧,所述衬底基板在所述多个测试接触垫的排布方向上具有彼此相对的第一边缘和第二边缘,所述测试邦定区在所述多个测试接触垫的排布方向上具有彼此相对且分别靠近所述第一边缘和第二边缘的第三边缘和第四边缘,所述标记金属层分别位于所述测试邦定区的第三边缘边的靠...

【专利技术属性】
技术研发人员:张波王蓉魏玉龙
申请(专利权)人:京东方科技集团股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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