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一种扩散光层析测量系统源探布配和光强优化方法技术方案

技术编号:41477007 阅读:14 留言:0更新日期:2024-05-30 14:28
本发明专利技术公开了一种扩散光层析测量系统源探布配和光强优化方法,属于光学测量技术领域,包括以下步骤:根据测量对象的特性和测量要求,确定最优测量数据量以及光源的激发情况,优化激发光源的位置布配;根据源探布配和测量对象特性调整光源的输出功率,优化光源强度。所述的光源布配优化方法包括理论计算和实验验证,所述的光源功率调整方法为自动调整。本设计的源探布配优化可以适当减少测量数据量,降低测量时间成本,为后续的高时间分辨率动态成像提供支撑,在噪声水平较高的情况下还可以提高重建图像质量;对光源强度的优化,可以提高重建图像的量化度和信噪比。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于光学测量,涉及一种基于奇异值分解和扩展卡尔曼滤波技术的扩散光层析测量系统源探布配和光强优化方法


技术介绍

1、扩散光学层析成像(diffuse optical tomography,dot)是一种无电离辐射、非侵入性的光学成像技术,它在早期乳腺癌筛查和功能性脑成像等领域具有潜在应用价值。在测量过程中,目标物位于光源和探测器之间,激发近红外光源(通常波长介于600nm至1000nm之间)照射目标物体,探测器收集来自光源的测量信息(如强度和相位等),重建出反映目标物结构或生理特征的图像。因此,利用扩散光层析测量系统实现数据采集过程是dot的重要环节。

2、在传统的dot数据采集过程中,最常用的方法光栅扫描,即依次点亮所有光源,收集检测到的光强信息,在获取所有测量数据后进行图像重建。然而,这个过程耗时较长,会导致测量的时间成本增加,从而降低时间分辨率,尤其在动态成像中,研究对象的结构或生理参数快速变化需要高时间分辨率,传统的dot测量方法将导致测得的数据无法敏感地反映研究对象的生理变化。此外,理论上更多的测量数据可以有效降低dot图像本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种扩散光层析测量系统源探布配和光强优化方法,其特征在于包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种扩散光层析测量系统源探布配和光强优化方法,其特征在于:所述的光源布配和光强优化方法包括理论计算和实验验证,所述的光源功率的调整方法为自动调整。

3.根据权利要求1所述的一种扩散光层析测量系统源探布配和光强优化方法,其特征在于:包括进行仿体实验、数据采集、源探模式布配和光强优化、图像重建和结果对比验证。

4.根据权利要求2所述的一种扩散光层析测量系统源探布配和光强优化方法,其特征在于:将采集到的数据传输至上位机进行处理,计算出优化后光强,通过上位机控制...

【技术特征摘要】

1.一种扩散光层析测量系统源探布配和光强优化方法,其特征在于包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种扩散光层析测量系统源探布配和光强优化方法,其特征在于:所述的光源布配和光强优化方法包括理论计算和实验验证,所述的光源功率的调整方法为自动调整。

3.根据权利要求1所述的一种扩散光层析测量系统源探布配和光强优化方法,其特征在于:包括进行仿体实验、数据采集、源探模式布配和光强优化、图像重建和...

【专利技术属性】
技术研发人员:张丽敏刘宗洋于新征张茜高峰
申请(专利权)人:天津大学
类型:发明
国别省市:

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