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本发明公开了一种扩散光层析测量系统源探布配和光强优化方法，属于光学测量技术领域，包括以下步骤：根据测量对象的特性和测量要求，确定最优测量数据量以及光源的激发情况，优化激发光源的位置布配；根据源探布配和测量对象特性调整光源的输出功率，优化光源...
该专利属于天津大学所有，仅供学习研究参考，未经过天津大学授权不得商用。

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