一种同时测定钼铁中多元素含量的方法技术

本发明专利技术公开了一种同时测定钼铁中多元素含量的方法，首先选取已知硅、磷、铜、钼元素含量的钼铁标准物质3‑5个，形成含量梯度，并将待测样品和已选取的钼铁标准物质粉碎至小于120目的颗粒；然后将待测样品和已选取的钼铁标准物质溶解在溶液中；再对各含量的钼铁标准物质溶液中硅、磷、铜、钼元素的发射光谱光强进行数据采集，由元素含量和发射光谱光强的对应关系绘制各元素标准工作曲线；对待测样品溶液中硅、磷、铜、钼元素发射光谱光强进行数据采集后，将该数据带入标准工作曲线，计算出待测样品的硅、磷、铜、钼元素含量。本发明专利技术解决了ICP光谱仪测定钼铁时样品溶液制备难题，对测定过程不会产生干扰。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种同时测定钼铁中多元素含量的方法，属于材料分析测试领域。

技术介绍

1、钼铁是一种重要的铁合金，一般含钼55-75％，在炼钢过程中作为钼元素的加入剂添加剂。传统的化学成分分析方法是化学法，其中硅元素用重量法、磷元素用光度法、铜元素和钼元素均采用比色法。缺点是每个元素需分别检测，操作繁琐，分析流程冗长，化学试剂用量大，分析成本高，准确度低。

2、电感耦合等离子体(icp-oes)发射光谱法是金属材料元素分析最常用的分析手段，具有检出限低、灵敏度高、稳定性好、基体效应小、浓度测定线性范围广、可多元素同时测定等优点，得到了广泛应用。

3、然而，传统的化学法试样预处理方法中，需使用硫酸铜、氯化亚锡、硝酸、硫酸、双环己酮草酰二腙、氨水、柠檬酸铵等多种化学试剂，待测溶液中大量化学试剂的加入，会对仪器测试带来干扰，影响测定的准确性和重复性。

技术实现思路

1、本专利技术的目的是为了提供一种快速、准确、对仪器无污染的采用icp-oes法测定钼铁中硅、磷、铜、钼元素含量的方法，以克服现有本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种同时测定钼铁中多元素含量的方法，其特征是具体步骤如下：

【技术特征摘要】

1.一种同时测定钼铁中多元素含量...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁维俊，武云琳，董平，王尧，董程雅，杨巨如，李思瑾，王婧宇，刘雪敏，刘震，甘锋，杨东星，黄军平，梁磊，张俊杰，弓艳红，
申请(专利权)人：晋西工业集团有限责任公司，
类型：发明
国别省市：