标本分析仪制造技术

技术编号:4146554 阅读:107 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供一种标本分析仪,包括:试剂配置部件,用于配置盛放试剂的试剂容器;测量器件,用于测算反映配置在上述试剂配置部件的试剂容器内的试剂量的值;接受单元,接受获取上述试剂配置部件上的试剂容器内的试剂余量的指示;测算控制单元,控制上述测量器件在上述接受单元受理上述指示时测算反映上述试剂配置部件上的试剂容器内的试剂量的值;试剂余量获取单元,根据上述测量器件的测算结果,获取表示上述测量器件测算的上述试剂容器内的试剂余量的试剂余量信息;及检测器,检测出由标本和配置于上述试剂配置部件的试剂容器内的试剂所制备的测定试样中所含的一定成份的相关信息。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种标本分析仪。更详细地说,本专利技术涉及一种能够显示用于分析的试剂的余量信息的标本分析仪。
技术介绍
过去,美国专利公开No. 2008/063570公开过一种标本分析仪,通过测定由标本和 试剂制备的测定试样来分析该标本成份。美国专利公开No. 2008/063570上记述的标本分 析仪在试剂配置部件配置有数个试剂容器,将试剂吸移管插入该试剂容器内吸移试剂。上 述标本分析仪每当用试剂吸移管进行试剂吸移操作时,都用设于该试剂吸移管前端的液面 传感器探测试剂容器内的液面,以便能够判断试剂容器内是否还留有制备测定试样所需量 的试剂,根据所得探测结果获取待吸移试剂的余量。并且,当试剂余量少于一定量时,在附 设于标本分析仪的电脑等控制装置的显示器上显示警告。 然而,美国专利公开No. 2008/063570上记述的标本分析仪为了縮短到测定待机 状态的时间,除正在进行测定外不进行液面探测操作,与吸移试剂同时进行探测液面操作, 算出该试剂的余量。因此,有时实际开始测定处理,进行试剂吸移操作后才知道配置于试剂 配置部件的试剂余量不够。如此,当测定开始后才知道试剂余量不足时,用户需要当时马上 从冰箱中找出要更换的试剂,放入仪器中。可是,用于分析的试剂中有的要将冷冻保存的试 剂解冻使用,有的要将冷冻干燥的试剂粉末用纯水溶解后使用。为此,用上述传统的标本分 析仪,有时更换试剂重新开始测定需要花很长时间。
技术实现思路
本专利技术提供 (1) —种标本分析仪,包括 试剂配置部件,用于配置盛放试剂的试剂容器; 测量器件,用于测算反映配置在上述试剂配置部件的试剂容器内的试剂量的值; 接受单元,接受获取上述试剂配置部件上的试剂容器内的试剂余量的指示; 测算控制单元,当上述接受单元受理上述指示时,控制上述测量器件测算反映上 述试剂配置部件的试剂容器内的试剂量的值; 试剂余量获取单元,根据上述测量器件的测算结果,获取表示上述测量器件测算 的上述试剂容器内的试剂余量的试剂余量信息;及 检测器,检测出有关由标本和配置于上述试剂配置部件的试剂容器内的试剂制备 的分析试样中所含的一定成份的信息; 用上述(1)所述标本分析仪可以通过接受单元下达获取试剂余量的指示,在开始 测定前确认试剂余量。因此,可以事先做好更换测定运行期间很可能余量不足的试剂的准 备工作。其结果,比如在没有余地配置预备试剂的仪器中,即使仪器测定运行期间出现试剂 余量不足,也可以迅速重新开始测定。 (2) (1)所述标本分析仪,其特征在于 所述试剂配置部件可以配置多个试剂容器; 所述接受单元可以通过所述各试剂容器通用的一个操作接受获取配置于所述试 剂配置部件的数个试剂容器中的各容器内所余试剂量的指示;及 所述测算控制单元当所述接受单元通过上述一个通用操作受理了上述指示时,控 制所述测量器件测算反映上述各试剂容器内的试剂量的值; (3) (1)所述标本分析仪,还包括 存储部件,用于存储所述试剂余量获取单元获取的所述试剂余量信息,其中 所述测算控制单元当所述接受单元受理了上述指示时,控制所述测量器件有选择 地计测反映上述存储部件中未存有试剂余量信息的试剂容器内的试剂余量的值; (4) (1)所述标本分析仪,还包括 显示器;及 显示控制单元,控制上述显示器显示标有可由用户指定的指定按钮的显示界面, 射 所述接受单元当上述指定按钮被指定时受理所述指示; (5) (1)所述标本分析仪,还包括 显示器; 显示控制单元,控制上述显示器显示所述试剂余量获取单元获取的所述试剂余量 信息;及 更换指示接受单元,接受更换配置在所述试剂配置部件的试剂容器的指示,其中 所述显示控制单元在上述更换指示接受单元接受上述更换指示后,从所述显示器 删除该更换指示接受单元收到上述更换指示的该试剂容器的试剂余量信息; (6) (1)所述标本分析仪,其特征在于 所述试剂配置部件上配置有用于装试剂的第一试剂容器;及 所述标本分析仪还包括 显示器; 显示控制单元,控制上述显示器显示所述试剂余量获取单元获取的所述试剂余量 信息; 识别信息获取部件,获取识别配置于所述试剂配置部件上的试剂容器的识别信 息;及 判断单元,根据上述识别信息获取部件获取的上述识别信息,判断不同于上述第 一试剂容器的第二试剂容器是否新配置于上述第一试剂容器在所述试剂配置部件的配置 位置,其中 当上述判断单元断定所述试剂配置部件上配置所述第一试剂容器的位置新配置 了上述第二试剂容器时,所述显示控制单元从上述显示器删除上述第一试剂容器的试剂余 量信息; (7) (1)所述标本分析仪,还包括 显示器; 显示控制单元,控制上述显示器显示所述试剂余量获取单元获取的所述试剂余量7信息;及 删除指定接受单元,接受对要删除显示在上述显示器的试剂余量信息的试剂容器 的指定,其中 在上述删除指定接受单元接受对要删除试剂余量信息的试剂容器的指定后,上述 显示控制单元从上述显示器上删除该试剂容器的试剂余量信息; (8) (1)所述标本分析仪,其特征在于 所述测量器件包括探测配置于所述试剂配置部件的试剂容器内的试剂液面的液 面探测部件; 所述测算控制单元当所述接受单元收到所述指示时,控制上述液面探测部件探测 配置于所述试剂配置部件的试剂容器内的试剂液面;及 所述试剂余量获取单元根据上述液面探测部件探测的结果,取得表示配置于所述 试剂配置部件的试剂容器内的试剂余量的试剂余量信息; (9) (8)所述标本分析仪,其特征在于 所述测量器件包含第二液面探测部件,用于探测配置于所述试剂配置部件的试剂容器内的试剂液面; 所述液面探测部件包括 第一导电元件,用于接触配置于所述试剂配置部件的试剂容器内的试剂; 第一移动装置,移动上述第一导电元件;及 第一电路,与上述第一导电元件电路连接,传输上述第一导电元件因接触试剂而 产生的电信息;及 上述第二液面探测部件包括 第二导电元件,用于接触配置于所述试剂配置部件的试剂容器内的试剂; 第二移动装置,移动上述第二导电元件;及 第二电路,与上述第二导电元件电路连接,传输上述第二导电元件因触及试剂而 产生的电信息; (10) (9)所述标本分析仪,其特征在于 所述标本分析仪有吸移试剂的试剂吸移管和吸移标本的标本吸移管; 上述试剂吸移管具有所述第一导电元件的功能;及 上述标本吸移管具有所述第二导电元件的功能; (11) (9)所述标本分析仪,还包括 清洗部件,用于清洗所述试剂吸移管和所述标本吸移管,其中 所述测算控制单元在所述液面探测部件和所述第二液面探测部件其中之一进行 液面探测作业时,控制所述另一个液面探测部件和上述清洗部件清洗所述另一个液面探测 部件的吸移管; (12) (1)所述标本分析仪,还包括 存储部件,存储所述试剂余量获取单元获取的所述试剂余量信息; 预定信息获取单元,用于获取包含所述标本分析项目的预定信息; 余量判断单元,根据上述存储部件存储的试剂余量信息和上述预定信息获取单元获取的上述预定信息,判断是否还有分析上述预定信息中分析项目所需的量的试剂;及 警告输出单元,当上述余量判断单元判断没有分析上述预定信息中分析项目所需 的量的试剂时,输出警告; (1本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种标本分析仪,包括:试剂配置部件,用于配置盛放试剂的试剂容器;测量器件,用于测算反映配置在所述试剂配置部件的试剂容器内的试剂量的值;接受单元,接受获取所述试剂配置部件上的试剂容器内试剂余量的指示;测算控制单元,当所述接受单元受理所述指示时,控制所述测量器件测算反映所述试剂配置部件上的试剂容器内的试剂量的值;试剂余量获取单元,根据所述测量器件的测算结果,获取表示所述测量器件测算的所述试剂容器内的试剂余量的试剂余量信息;及检测器,检测出有关由标本和配置于所述试剂配置部件的试剂容器内的试剂制备的测定试样中所含的一定成份的信息。

【技术特征摘要】
JP 2008-10-27 2008-275917一种标本分析仪,包括试剂配置部件,用于配置盛放试剂的试剂容器;测量器件,用于测算反映配置在所述试剂配置部件的试剂容器内的试剂量的值;接受单元,接受获取所述试剂配置部件上的试剂容器内试剂余量的指示;测算控制单元,当所述接受单元受理所述指示时,控制所述测量器件测算反映所述试剂配置部件上的试剂容器内的试剂量的值;试剂余量获取单元,根据所述测量器件的测算结果,获取表示所述测量器件测算的所述试剂容器内的试剂余量的试剂余量信息;及检测器,检测出有关由标本和配置于所述试剂配置部件的试剂容器内的试剂制备的测定试样中所含的一定成份的信息。2. 权利要求1所述标本分析仪,其特征在于 所述试剂配置部件可以配置多个试剂容器;所述接受单元可以通过所述各试剂容器通用的一个操作接受获取配置于所述试剂配 置部件的数个试剂容器中的各容器内所余试剂量的指示;及所述测算控制单元当所述接受单元通过所述一个通用操作受理了所述指示时,控制所 述测量器件测算反映所述各试剂容器内的试剂量的值。3. 权利要求1所述标本分析仪,还包括存储部件,用于存储所述试剂余量获取单元获取的所述试剂余量信息,其中 所述测算控制单元当所述接受单元受理了所述指示时,控制所述测量器件有选择地测 算反映所述存储部件中未存有试剂余量信息的试剂容器内的试剂余量的值。4. 权利要求1所述标本分析仪,还包括 显示器;及显示控制单元,控制所述显示器显示标有可由用户指定的指定按钮的显示界面,其中 所述接受单元当所述指定按钮被指定时受理所述指示。5. 权利要求1所述标本分析仪,还包括 显示器;显示控制单元,控制所述显示器显示所述试剂余量获取单元获取的所述试剂余量信 息;及更换指示接受单元,接受更换配置在所述试剂配置部件的试剂容器的指示,其中 所述显示控制单元在所述更换指示接受单元接受所述更换指示后,从所述显示器删除 该更换指示接受单元收到所述更换指示的该试剂容器的试剂余量信息。6. 权利要求1所述标本分析仪,其特征在于 所述试剂配置部件上配置有用于装试剂的第一试剂容器;及 所述标本分析仪还包括显示器;显示控制单元,控制所述显示器显示所述试剂余量获取单元获取的所述试剂余量信息;识别信息获取部件,获取识别配置于所述试剂配置部件上的试剂容器的识别信息;及 判断单元,根据所述识别信息获取部件获取的所述识别信息,判断不同于所述第一试剂容器的第二试剂容器是否新置于所述第一试剂容器配置在所述试剂配置部件的配置位 置,其中当所述判断单元断定所述试剂配置部件上配置所述第一试剂容器的位置新配置了所 述第二试剂容器时,所述显示控制单元从所述显示器删除所述第一试剂容器的试剂余量信 息。7. 权利要求1所述标本分析仪,还包括 显示器;显示控制单元,控制所述显示器显示所述试剂余量获取单元获取的所述试剂余量信 息;及删除指定接受单元,接受对要删除显示在所述显示器的试剂余量信息的试剂容器的指 定,其中在所述删除指定接受单元接受对要删除试剂余量信息的试剂容器的指定后,所述显示 控制单元从所述显示器上删除该试剂容器的试剂余量信息。8. 权利要求1所述标本分析仪,其特征在于所述测量器件包括探测配置于所述试剂配置部件的试剂容器内的试剂液面的液面探 测部件;所述测算控制单元当所述接受单元受理所述指示后,控制所述液面探测部件探测配置 于所述试剂配置部件的试剂容器内的试剂液面;所述试剂余量获取单元根据所述液面探测部件探测的结果,取得表示配置于所述试剂 配置部件的试剂容器内的试剂余量的试剂余量信息。9. 权利要求8所述标本分析仪,其特征在于所述测量...

【专利技术属性】
技术研发人员:近藤启太郎
申请(专利权)人:希森美康株式会社
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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