积层陶瓷电容及其制作方法技术

技术编号:41449330 阅读:39 留言:0更新日期:2024-05-28 20:39
本发明专利技术揭露一种积层陶瓷电容及其制作方法。此制作方法先形成内电极层与陶瓷介电层,并交替地层压此些内电极层与陶瓷介电层,以形成积层体。其中,内电极层以特定的金属粒子所制成。然后,对积层体进行烧结工艺,以形成积层陶瓷体。接着,于积层陶瓷体的两端形成端电极,即可制得本发明专利技术的积层陶瓷电容。所制得的积层陶瓷电容具有良好的内电极连续性,而具有较佳的电容特性与信赖性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术有关一种积层陶瓷电容,特别是提供一种具有高内电极连续性的积层陶瓷电容及其制作方法


技术介绍

1、随着科技的进步,电子产品对于电容的要求越趋严格,且随着轻薄化的研发趋势,电容的尺寸规格也越趋微小化。为兼顾电容尺寸与电容特性的要求,具有多层金属电极片的积层陶瓷电容(multi-layer ceramic capacitor;mlcc)已成为极力被发展的产品。由于积层陶瓷电容将电量储存材料层压为梳形(comb)结构,故可在相同体积的条件下,具有较大的电极面积,而可提供较佳的电容特性,进而满足高阶产品的应用需求。

2、于积层陶瓷电容的工艺中,随着积层陶瓷电容的内电极层的堆叠层数增加,内电极层也越趋微细,但烧结工艺中所施加的高温热能易导致内电极层的金属粒子球化,而导致不连续的缺陷,进而降低积层陶瓷电容的电容特性。

3、有鉴于此,亟需提供一种积层陶瓷电容及其制作方法,以改进现有积层陶瓷电容及其制作方法的缺点。


技术实现思路

1、本专利技术的一态样提供一种积层陶瓷电容的制作方法,其中此方本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种积层陶瓷电容的制作方法,其特征在于,该制作方法包含:

2.根据权利要求1所述的积层陶瓷电容的制作方法,其特征在于,所述多个金属粒子的形成方法包含:

3.根据权利要求2所述的积层陶瓷电容的制作方法,其特征在于,该雾化溶液包含化合物,且该化合物具有对应于该氧化金属层的金属原子。

4.根据权利要求1所述的积层陶瓷电容的制作方法,其特征在于,该氧化金属层的厚度为1nm至50nm。

5.根据权利要求1所述的积层陶瓷电容的制作方法,其特征在于,该氧化金属层包含锡氧化物,且该金属层包含金属锡。

6.根据权利要求1所述的积层陶瓷电容的制...

【技术特征摘要】

1.一种积层陶瓷电容的制作方法,其特征在于,该制作方法包含:

2.根据权利要求1所述的积层陶瓷电容的制作方法,其特征在于,所述多个金属粒子的形成方法包含:

3.根据权利要求2所述的积层陶瓷电容的制作方法,其特征在于,该雾化溶液包含化合物,且该化合物具有对应于该氧化金属层的金属原子。

4.根据权利要求1所述的积层陶瓷电容的制作方法,其特征在于,该氧化金属层的厚度为1nm至50nm。

5.根据权利要求1所述的积层陶瓷电容的制作方法,其特征在于,该氧化金属层包含锡氧化物,且该金属层包含金属锡。

6.根据权利要求1所述的积层陶瓷电容的制作方法,其特征在于,于进行该高温烧结步骤前,所述多个内电极层未于还原环境中处理。

7.根据权利要求6所述的积层陶瓷电容的制作方法,其特征在于,该还原环境的氧分压不大于10-10mpa。

8.根据权利要求6所述的积层陶瓷电容的制作方法,其特征在于,该还原环境的温度不小于1000℃。

9.根据权利要求1所述的积层陶瓷电容的制作方法,其特征在于,该高温烧结步骤的氧分压为10-12mpa至10-10mpa。

10.根据权利要求1所述的积层陶瓷电容的制...

【专利技术属性】
技术研发人员:藤本正之杨凯勋郑义冠
申请(专利权)人:国巨电子中国有限公司
类型:发明
国别省市:

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