【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于芯片检测领域，具体涉及基于yolo-s的芯片电气性能批量检测方法。
技术介绍
1、在现代芯片设计和制造领域中，对芯片的性能和可靠性要求越来越高。电压、电流等信号是评估芯片运行状态和性能的关键指标。在传统的芯片检测方法中，工程师们使用各种测试仪器来采集这些信号，然后通过数据分析进行芯片的状态监测和故障诊断。
2、然而，传统方法对于大规模的芯片检测存在一定的限制和挑战。首先，在传统方法中，工程师们进行数据分析时需要专门的测试设备和复杂的测试流程，这使得芯片性能分析变得繁琐和昂贵；其次，传统方法需要工程师的参与，难以实现批量化的芯片检测。
3、因此，如何实现对芯片批量检测是一项亟待解决的问题。
技术实现思路
1、为了解决现有技术中所存在的上述问题，本专利技术提供了一种基于yolo-s的芯片电气性能批量检测方法。
2、本专利技术要解决的技术问题通过以下技术方案实现：
3、本专利技术提供了一种基于yolo-s的芯片电气性能批量检测方法，所
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1.一种基于YOLO-S的芯片电气性能批量检测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将每个原始信号均转换为一张二维图像包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述芯片检测模型为：以Darknet20作为主干架构的YOLO-S网络模型。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，不同性能参数的采样速度不同；
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少一个性能参数包括电压、电流、功耗、温度和/或时钟频率。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，当性能...
【技术特征摘要】
1.一种基于yolo-s的芯片电气性能批量检测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将每个原始信号均转换为一张二维图像包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述芯片检测模型为：以darknet20作为主干架构的yolo-s网络模型。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，不同性能参数的采样速度不同；
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少一个性能参数包括电压、电流、功耗、温度和/或时钟频率。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，当性能参数为电压时，所述异常信号点...
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