温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种基于YOLO‑S的芯片电气性能批量检测方法，针对批量芯片，获取每个芯片在一段时长内的至少一个性能参数，每段时长内的性能参数均构成该芯片的一个原始信号；将每个原始信号均转换为一张二维图像；将所有二维图像分批输入基于YOLO‑S...
该专利属于西安电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安电子科技大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。