一种触控芯片模拟按压测试结构制造技术

本技术提供一种触控芯片模拟按压测试结构，涉及触控芯片加工技术领域，包括测试台和芯片主体，测试台顶面设有测试槽，测试槽内部设有芯片主体，测试台顶面两侧分别设有测试组件和驱动组件，弹簧钢片一端嵌入定位座一侧，弹簧钢片顶面远离定位座的一端设有第一磁片，驱动组件包括驱动电机的驱动支臂，驱动电机的输出轴端部与驱动支臂一端连接，驱动支臂远离驱动电机的一端底部设有第二磁片，第一磁片和第二磁片磁性相反，芯片主体可在按压支臂与弹簧钢片的反复吸取释放的作用线进行变频率和变压力的按压测定，便于对芯片主体在不同频率和压力下的灵敏度测试使用，结构简单，成本低，易于控制，便于快速对芯片主体表面按压进行模拟测试使用。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及触控芯片加工，尤其涉及一种触控芯片模拟按压测试结构。

技术介绍

1、随着以触控识别为代表的生物识别技术的飞速发展，电子设备几乎都配备触控识别功能，一般采用电容式或电阻式来实现触控识别，在触控芯片的量产过程中会对触控芯片进行按压测试，现有的按压测试装置包括气缸制动杆、调节旋钮、弹簧和橡胶头，即现有的按压测试装置是单个弹簧结构，在进行按压测试时，气缸制动杆通过弹簧推动橡胶头朝向待测芯片移动并按压芯片，从而能够完成按压测试。

2、现有技术中一般采用弹簧配合气缸进行驱动，但由于整个气缸驱动结构使用时，气缸与弹簧的连接导致气缸无法快速撤离，测试时容易受到影响，且整个结构测试复杂，操作测试连续性不佳。

技术实现思路

1、本技术的目的是为了解决现有技术中芯片连续测试时不易操作存在的缺点，而提出的一种触控芯片模拟按压测试结构。

2、为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：一种触控芯片模拟按压测试结构，包括测试台和芯片主体，所述测试台顶面设有测试槽，所述测试槽内部设有芯片主体，所述测试台顶本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种触控芯片模拟按压测试结构，包括测试台(1)和芯片主体(3)，其特征在于：所述测试台(1)顶面设有测试槽(2)，所述测试槽(2)内部设有芯片主体(3)，所述测试台(1)顶面两侧分别设有测试组件(9)和驱动组件(10)，所述测试组件(9)包括定位座(902)和弹簧钢片(903)，所述弹簧钢片(903)一端嵌入定位座(902)一侧，所述弹簧钢片(903)顶面远离定位座(902)的一端设有第一磁片(904)，所述驱动组件(10)包括驱动电机(1002)的驱动支臂(1003)，所述驱动电机(1002)的输出轴端部与驱动支臂(1003)一端连接，所述驱动支臂(1003)远离驱动电机(1002...

【技术特征摘要】

1.一种触控芯片模拟按压测试结构，包括测试台(1)和芯片主体(3)，其特征在于：所述测试台(1)顶面设有测试槽(2)，所述测试槽(2)内部设有芯片主体(3)，所述测试台(1)顶面两侧分别设有测试组件(9)和驱动组件(10)，所述测试组件(9)包括定位座(902)和弹簧钢片(903)，所述弹簧钢片(903)一端嵌入定位座(902)一侧，所述弹簧钢片(903)顶面远离定位座(902)的一端设有第一磁片(904)，所述驱动组件(10)包括驱动电机(1002)的驱动支臂(1003)，所述驱动电机(1002)的输出轴端部与驱动支臂(1003)一端连接，所述驱动支臂(1003)远离驱动电机(1002)的一端底部设有第二磁片(1004)，所述第一磁片(904)和第二磁片(1004)磁性相反。

2.根据权利要求1所述的一种触控芯片模拟按压测试结构，其特征在于：所述测试台(1)顶面两侧设有直线滑槽(8)，所述直线滑槽(8)内部分别设有第一滑块(901)和第二滑块(1001)，所述第一滑块(901)顶端与定位座(902)底面连接，所述驱动电机(1002)嵌入第二滑块(1001)内部，且驱动电机(1002)的输出轴与第二滑块(1001)顶面贯穿。

3.根据权利要求1所述的一种触控芯片模拟按压测试结构，其特征在于：所述测试槽(2...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄伟，
申请(专利权)人：重庆金普盛电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：