【技术实现步骤摘要】
本技术涉及光学仪器测量，具体地说，涉及一种反光式高反光材料用测量装置。
技术介绍
1、光学仪器是仪器仪表行业中非常重要的组成类别，是工农业生产、资源勘探、空间探索、科学实验、国防建设以及社会生活各个领域不可缺少的观察、测试、分析、控制、记录和传递的工具。特别是现代光学仪器的功能已成为人脑神经功能的延伸和拓展。
2、经检索，现有专利（公开号：cn215952464u）公开了一种光学仪器用测量仪的稳定机构，属于光学检测仪
，本技术包括测量仪本体，测量仪本体上连接有测量镜头，且测量仪本体上位于测量镜头底部设有放置检测配件的放置台板，放置台板一端设有收纳槽，且收纳槽内部连接有收纳组件，收纳组件一端连接有放置配件翘起侧边的放置侧框，且放置侧框与配件翘起侧边接触处设有摩擦条，放置台板一侧连接有压边件，且压边件用以压住配件水平侧边。本技术通过采用压边件将配件的水平侧边压合在测量仪本体处，同时利用收纳组件支撑放置槽框，同时因为放置槽框处通过摩擦条将配件的单边翘起处进行稳定，便于对于单边翘起配件进行稳定支撑，减少了单边翘起配件光学测量时...
【技术保护点】
1.一种反光式高反光材料用测量装置，包括显示组件（1），其特征在于：所述显示组件（1）的底部贯穿有滑轨（7），所述滑轨（7）的一端固定连接有限位板（8），所述滑轨（7）的另一端固定连接有底座（4），所述底座（4）的正面贯穿有夹持座（3）；
2.根据权利要求1所述的一种反光式高反光材料用测量装置，其特征在于：所述底座（4）与夹持座（3）之间构成螺纹啮合结构，且被测原材（2）通过夹持座（3）与底座（4）之间构成滑动结构。
3.根据权利要求1所述的一种反光式高反光材料用测量装置，其特征在于：所述显示组件（1）通过滑轨（7）与底座（4）之间构成滑动结构...
【技术特征摘要】
1.一种反光式高反光材料用测量装置，包括显示组件（1），其特征在于：所述显示组件（1）的底部贯穿有滑轨（7），所述滑轨（7）的一端固定连接有限位板（8），所述滑轨（7）的另一端固定连接有底座（4），所述底座（4）的正面贯穿有夹持座（3）；
2.根据权利要求1所述的一种反光式高反光材料用测量装置，其特征在于：所述底座（4）与夹持座（3）之间构成螺纹啮合结构，且被测原材（2）通过夹持座（3）与底座（4）之间构成滑动结构。
3.根据权利要求1所述的一种反光式高反光材料用测量装置，其特征在于：所述显示组件（1）通过滑轨（7）与底座（4）之间构成滑动结构，所述滑轨（7）通过限位板（8）与所述显示组件（1）之间构成限位结构。
4.根据权利要求1所述的一种反光式高反光材料用测量装置，其特征在于：所述滑轨（7）的数量为两个，对称分布在所述底座（4）的一侧，所述底座（4）与滑轨（7）之间通过焊接构成一体化结构。
5.根据权利要求1所述的一种反光式高反光材料用测量装置，其特征在于：所述显示组件（1）包括位于所述滑轨（7）外壁的基座（11），且基座（11）的正面贯穿限位螺丝（12），所述基座（11）的一侧开设对接槽（13...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘则，贲超，刘霞，
申请(专利权)人：苏州迪普科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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