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本技术公开了一种反光式高反光材料用测量装置，具体涉及光学仪器测量领域，包括显示组件，所述显示组件的底部贯穿有滑轨，所述滑轨的一端固定连接有限位板，所述滑轨的另一端固定连接有底座，所述底座的正面贯穿有夹持座，所述夹持座的顶部放置有被测原材，所...
该专利属于苏州迪普科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州迪普科技有限公司授权不得商用。

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