【技术实现步骤摘要】
本专利技术是关于一种声学阻抗(acoustic impedance)量测系统以及一种声学阻抗量测方法，尤指一种能够测量声学器件的声学阻抗的声学阻抗量测系统以及一种相关的声学阻抗量测方法。
技术介绍
1、在现今社会中，声学装置可被广泛地应用在各式电子装置中。为了提升声学装置的性能，声学装置中的所有器件都需具有适合声学装置的特性与参数。
2、声学装置的性能高度相关于声学装置中的器件的声学阻抗的适用性。然而，目前并没有能够很好地测量器件的声学阻抗的仪器和系统。因此，目前迫切需要一种能够准确测量器件的声学阻抗的仪器或系统。
技术实现思路
1、因此，本专利技术的主要目的是提供一种声学阻抗量测系统，其具有多个腔体，使得设置在此些腔体之间的声学器件的声学阻抗可被测量。另外，本专利技术还提供一种相关的声学阻抗量测方法。
2、本专利技术的一实施例提供了一种声学阻抗量测系统，其用以测量声学器件的声学阻抗。声学阻抗量测系统包括第一腔体、第二腔体、第一声压感测装置、第二声压感测装置与声源。...
【技术保护点】
1.一种声学阻抗量测系统，其特征在于，用以测量一声学器件的一声学阻抗，所述声学阻抗量测系统包括：
2.如权利要求1所述的声学阻抗量测系统，其特征在于，所述第一腔体具有一声音入口，所述声音入口连接于所述声源，所述声学器件面对所述声音入口。
3.如权利要求1所述的声学阻抗量测系统，其特征在于，所述第二腔体具有一壁体，所述声学器件面对所述壁体。
4.如权利要求1所述的声学阻抗量测系统，其特征在于，所述声学器件的一第一侧面对且连接于所述第一腔体的所述第一空腔，所述声学器件的一第二侧面对且连接于所述第二腔体的所述第二空腔。
5.如...
【技术特征摘要】
1.一种声学阻抗量测系统，其特征在于，用以测量一声学器件的一声学阻抗，所述声学阻抗量测系统包括：
2.如权利要求1所述的声学阻抗量测系统，其特征在于，所述第一腔体具有一声音入口，所述声音入口连接于所述声源，所述声学器件面对所述声音入口。
3.如权利要求1所述的声学阻抗量测系统，其特征在于，所述第二腔体具有一壁体，所述声学器件面对所述壁体。
4.如权利要求1所述的声学阻抗量测系统，其特征在于，所述声学器件的一第一侧面对且连接于所述第一腔体的所述第一空腔，所述声学器件的一第二侧面对且连接于所述第二腔体的所述第二空腔。
5.如权利要求1所述的声学阻抗量测系统，其特征在于，所述第一腔体为一管状结构，所述第二腔体为另一管状结构。
6.如权利要求1所述的声学阻抗量测系统，其特征在于，另包括一腔体变位结构，用以使所述第一腔体与所述第二腔体彼此靠近。
7.如权利要求1所述的声学阻抗量测系统，其特征在于，另包括一块状结构，所述块状结构包括所述第一腔体或所述第二腔体，其中所述块状结构具有至少一导电结构，所述导电结构用以电连接所述声学器件。
8.如权利要求1所述的声学阻抗量测系统，其特征在于，另包括一分析器，电连接所述第一声压感测装置与所述第二声压感测装置，其中所述分析器用以接收与分析由所述第一声压感测装置与所述第二声压感测装置产生的感测信号。
9.如权利要求1所述的声学阻抗量测系统，其特征在于，另包括一模式变换装置，用以控制所述声学器件的模式。
10.如权利要求1所述的声学阻抗量测系统，其特征在于，所述声学器件的所述声学...
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