一种自动对焦扫码方法、装置、系统、设备和介质制造方法及图纸

技术编号:41418486 阅读:27 留言:0更新日期:2024-05-21 20:51
本申请提供了一种自动对焦扫码方法、装置、系统、设备和介质,涉及扫码识别领域,方法包括:根据来自第一霍尔元件的试剂管上样信号,确定可推行试剂管载架的目标位置;从预先建立的载架位置与焦距值的对应关系中,确定目标位置对应的目标焦距值;将目标焦距值发送至扫码器,以便扫码器将自身焦距调整至目标焦距值,并在可推行试剂管载架推行的过程中,对试剂管上的条形码和/或可推行试剂管载架上的条形码进行对焦扫码。本申请能够根据可推行试剂管载架的目标位置确定扫码器的目标焦距值,在扫码器调焦后即可进行自动对焦扫码,由于无需人工参与扫码,节省了人力资源,且自动对焦扫码的方式不易出错且扫码效率更高。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及扫码识别领域,特别是涉及一种自动对焦扫码方法、装置、系统、设备和介质


技术介绍

1、随着条形码(例如一维码、二维码等)的迅速普及,需要扫码的场景越来越多。目前存在的各类需要扫码的场景基本都是人工扫码,人工扫码是指人工将需要的条码信息逐条扫码并存入数据库中。

2、但是人工扫码的方式易出错、扫码效率低且浪费人力资源。


技术实现思路

1、有鉴于此,本申请提供了一种自动对焦扫码方法、装置、系统、设备和介质,用于解决现有技术存在的人工扫码易出错、扫码效率低且浪费人力资源的问题,其技术方案如下:

2、一种自动对焦扫码方法,包括:

3、根据来自第一霍尔元件的试剂管上样信号,确定可推行试剂管载架的目标位置,其中,可推行试剂管载架上沿推行方向放置有一排试剂管,可推行试剂管载架的底部沿推行方向的前方位置处设置有第一磁铁,试剂管上样信号为可推行试剂管载架在推行过程中,第一霍尔元件在检测到第一磁铁产生的磁场时生成的信号;

4、从预先建立的载架位置与焦距值的对应关系中,确定目本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种自动对焦扫码方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的自动对焦扫码方法,其特征在于,所述可推行试剂管载架沿所述推行方向的前方位置处设置有第二磁铁;

3.根据权利要求2所述的自动对焦扫码方法,其特征在于,还包括:

4.根据权利要求1所述的自动对焦扫码方法,其特征在于,所述可推行试剂管载架包括沿所述推行方向排布的多个试剂管放置位,所述多个试剂管放置位用于放置所述一排试剂管;

5.一种自动对焦扫码系统,其特征在于,包括:处理器、权利要求1所述的扫码器、至少一个所述可推行试剂管载架和至少一个所述第一霍尔元件,以及至少一个权利要求2所...

【技术特征摘要】

1.一种自动对焦扫码方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的自动对焦扫码方法,其特征在于,所述可推行试剂管载架沿所述推行方向的前方位置处设置有第二磁铁;

3.根据权利要求2所述的自动对焦扫码方法,其特征在于,还包括:

4.根据权利要求1所述的自动对焦扫码方法,其特征在于,所述可推行试剂管载架包括沿所述推行方向排布的多个试剂管放置位,所述多个试剂管放置位用于放置所述一排试剂管;

5.一种自动对焦扫码系统,其特征在于,包括:处理器、权利要求1所述的扫码器、至少一个所述可推行试剂管载架和至少一个所述第一霍尔元件,...

【专利技术属性】
技术研发人员:禤敏图唐文斌
申请(专利权)人:深圳华大智造科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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