具有采样的架构的金属检测器制造技术

本发明专利技术涉及磁检测技术领域。特别地，本发明专利技术涉及一种用于检测暴露于磁检测场的至少一个金属物体的金属检测器(100)。本发明专利技术提供了一种使用具有采样架构的接收器的金属检测器。特别地，在这种类型的架构中，采样操作与量化和编码操作分开。相比之下，在常规架构中，通常在模数转换器(ADC)上并行执行这三个操作。在采样架构的上下文中，对接收信号直接执行采样，并且在离散时间中执行大多数信号处理(例如，通过使用具有用于切换目的的MOS开关的开关电容器系统)。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本专利技术涉及磁检测的。特别地，本专利技术涉及一种用于检测暴露于检测磁场的至少一个金属物体的金属检测器。

技术介绍

1、金属检测器主要用于安全领域，用于机场以检测隐藏在飞机乘客身上的武器，用于军事领域以进行扫雷，用于休闲以搜索各种掩埋物体，或用于考古学以搜索古董。

2、在最广泛的金属检测器系列中，存在所谓的“无源”金属检测器和所谓的“有源”金属检测器。

3、无源金属检测器感测并评估地球磁场的变形，而有源金属检测器在其传输阶段生成在金属中感应涡电流的电磁场。

4、在描述作为本专利技术的主题的有源检测器的示例之前，我们将简要描述无源金属检测器的示例。

5、磁力计是不传输任何信号的无源检测器。特别地，考虑到地球的磁场本质上是均匀的，它检测均匀性的断裂。因此，被地球场磁化的任何金属颗粒根据其尺寸、其位置及其冶金属性，而或多或少地强烈破坏这种均匀性。磁力计的基本原理是基于两个线圈，这两个线圈对磁场敏感并且以相反的相位安装，以便给出磁场的零电测量。如果这些线圈中的一个遇到击穿场(disruptive field)，则差停本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种金属检测器(100)，用于检测暴露于检测磁场的至少一个金属物体，所述金属检测器(100)包括：

2.根据权利要求1所述的金属检测器(100)，其中，所述采样架构接收器(120)还包括实数-复数转换设备(122)，该实数-复数转换设备(122)耦接在第一采样器(121)的下游，并且该实数-复数转换设备(122)被配置为将所述第一采样信号s[t]、s”[t]转换为具有同相分量I[t]和正交分量Q[t]的复信号s[t]*、s”[t]*。

3.根据权利要求2所述的金属检测器(100)，其中所述第一采样频率f1遵循以下关系：

4.根据权利要求1至3中任一...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种金属检测器(100)，用于检测暴露于检测磁场的至少一个金属物体，所述金属检测器(100)包括：

2.根据权利要求1所述的金属检测器(100)，其中，所述采样架构接收器(120)还包括实数-复数转换设备(122)，该实数-复数转换设备(122)耦接在第一采样器(121)的下游，并且该实数-复数转换设备(122)被配置为将所述第一采样信号s[t]、s”[t]转换为具有同相分量i[t]和正交分量q[t]的复信号s[t]*、s”[t]*。

3.根据权利要求2所述的金属检测器(100)，其中所述第一采样频率f1遵循以下关系：

4.根据权利要求1至3中任一项所述的金属检测器(100)，其中，所述采样架构接收器(120)还包括耦接在第一采样器(121)上游的连续时间抗混叠滤波器(123)，该连续时间抗混叠滤波器(123)具有这样的带宽，该带宽被配置为以与所述接收信号s(t)相关联的检测频率中的至少任何一个检测频率为中心，以便将所述接收信号s(t)的带宽限制在所述检测频率中的至少任何一个检测频率周围，并传递滤波后的接收信号|s(t)|。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的金属检测器(100)，其中，所述采样架构接收器(120)还包括，

6.根据权利要求5所述的金属检测器(100)，还包括被称为过采样器(126)的非量化类型的过采样设备，所述过采样器(126)耦接在所述第二采样器(124)和所述离散时间抗混叠滤波器(125)之间。

【专利技术属性】
技术研发人员：D·希亚维纳托，
申请(专利权)人：埃克斯普洛雷尔公司，
类型：发明
国别省市：