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本发明涉及磁检测技术领域。特别地，本发明涉及一种用于检测暴露于磁检测场的至少一个金属物体的金属检测器(100)。本发明提供了一种使用具有采样架构的接收器的金属检测器。特别地，在这种类型的架构中，采样操作与量化和编码操作分开。相比之下，在常规...
该专利属于埃克斯普洛雷尔公司所有，仅供学习研究参考，未经过埃克斯普洛雷尔公司授权不得商用。

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