【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及集成电路，尤其涉及一种微显示屏的像素检测方法、像素检测电路及像素屏蔽方法。
技术介绍
1、随着科技的发展，显示面板越来越多的应用在人们的生产和生活中。特别是随着micro-led显示技术的发展，微显示屏的应用场景越加广泛。micro-led显示技术是指以自发光的微米量级的led为发光像素单元，将其组装到驱动面板上形成高密度led阵列的显示技术。由于micro-led芯片尺寸小、集成度高和自发光等特点，在显示方面与lcd、oled相比在亮度、分辨率、对比度、能耗、使用寿命、响应速度和热稳定性等方面具有更大的优势。基于上述优势，基于微显示芯片的显示装置可以制造成微型且可便携的产品，这使得基于微显示芯片的显示装置可以应用于av或vr显示装置中。
2、在微显示屏面板制造完毕后，通常需要对显示面板进行故障检测，以确定显示面板的像素是否包括亮点和暗点。其中，亮点和暗点均为故障的像素，且亮点发出光的亮度远大于周围像素的亮度，暗点发出的光的亮度远小于周围像素的亮度。由于微显示屏的小尺寸特点，使用人眼对显示屏进行像素检测已经无法实施。
3、目前，现有技术中通过故障检测系统对显示面板进行故障检测。该故障检测系统包括：故障检测装置、驱动模组和图像采集模组。示例地，在对显示面板进行故障检测时，故障检测装置需要首先通过驱动模组驱动显示面板发光，并通过图像采集模组采集显示面板的有效显示区域的亮态图像(该亮态图像能够体现显示面板中每个像素的亮度)。之后，就可以根据该亮态图像，确定显示面板中每个子像素的亮度，并基于确定出的
4、这种检测方式系统复杂，实施成本高，且效率低。因此现有技术中需要一种能够使微显示芯片自身集成像素检测逻辑的像素检测方法。并同时能够根据像素检测方法实施像素屏蔽的显示驱动方法。
技术实现思路
1、本专利技术所要实现的技术目的在于提供一种微显示屏的像素检测及屏蔽方法，从而实现在微显示芯片内部自身集成像素检测方法及像素屏蔽方法，使像素检测过程更为简便高效。
2、基于上述技术目的，本专利技术提供一种微显示屏的像素检测方法，所述方法包括：
3、使所述微显示面板显示第一测试图像，并采集存储微显示面板的第一公共电流值i1；所述第一测试图像为全亮图像；
4、使所述微显示面板显示第二测试图像，所述第二测试图像为在全亮图像下依次只熄灭一个像素；并采集存储微显示面板在熄灭每一个像素时的第二公共电流值i2；
5、对比第一公共电流值i1和第二公共电流值i2，若i1＜i2则判定该像素属于像素缺陷点，并使计数单元的计数值增加一个；
6、使所述微显示面板显示第三测试图像，并采集存储微显示面板的第三公共电流值i3；所述第三测试图像为全暗图像；
7、使所述微显示面板显示第四测试图像，所述第四测试图像为在全暗图像下依次只点亮一个像素；并采集存储微显示面板在点亮每一个像素时的第四公共电流值i4；
8、对比第三公共电流值i3和第四公共电流值i4，若i4=i3则判定该像素属于像素缺陷点，并使计数单元的计数值增加一个；
9、当计数单元的计数值达到第一阈值时退出像素检测。
10、在一个实施例中，每一次切换测试图形后，等待预定时长后，再采集并存储公共电流值。
11、在一个实施例中，将整个微显示面板划分为m×n个测试分区，随后对每一个测试分区分别执行像素检测。
12、在一个实施例中，所述第一阈值为计数单元的存储上限。
13、在一个实施例中，所述第一阈值为255。
14、本专利技术还提供一种用于执行所述像素检测方法的像素检测电路，所述电路包括：测试图形生成单元、adc转换模块、电流值比较单元及计数单元；所述测试图形生成单元用于生成第一至第四测试图像，并传输至微显示面板进行显示；所述adc转换模块用于采集微显示面板的公共电流，并将公共电流转换为数字信号输入至电流值比较单元，所述电流值比较单元对不同测试图像下的公共电流值进行比较以检测出缺陷像素；所述计数单元；用于统计及存储缺陷像素数量。
15、在一个实施例中，所述像素检测电路位于微显示芯片的内部，且所述像素检测电路由单独的io接口进行控制，并可以通过屏蔽该io接口关闭像素检测功能。
16、在一个实施例中，所述像素检测电路内部的通讯基于i2c总线协议实现。
17、本专利技术还提供一种基于本专利技术的像素检测方法的像素屏蔽方法，所述像素屏蔽方法包括：
18、令所述微显示面板的实际物理像素相对其显示画面的最高分辨率而言，在行列方向上设置有多行及多列冗余像素；
19、在执行像素检测时，统计缺陷像素点数量时同步记录缺陷像素点位置；
20、根据缺陷像素点位置统计每行及每列中所述缺陷像素点的数量，并根据所述数据对所述缺陷像素点进行分组；
21、对不同分组下的所述缺陷像素点进行像素屏蔽，所述像素屏蔽是指在进行实际画面显示时，原本应在所述缺陷像素点的行或列进行显示的图像数据被延迟到相邻的下一行或下一列进行显示。
22、在一个实施例中，当实施像素屏蔽的像素行的数量达到冗余像素行数时，则停止行像素屏蔽；当实施像素屏蔽的像素列的数量达到冗余像素列数时，则停止列像素屏蔽。
23、与现有技术相比，本专利技术的一个或多个实施例可以具有如下优点：
24、本专利技术通过在微显示芯片内部构建像素检测单元，通过检测流过公共电极的电流的方式判断像素点是否为缺陷点，并能够自动实施像素屏蔽。从而相较于现有技术，能够更为简单高效的完成像素检测及屏蔽工作。
25、本专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
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1.一种微显示屏的像素检测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的像素检测方法，其特征在于，每一次切换测试图形后，等待预定时长后，再采集并存储公共电流值。
3.根据权利要求1所述的像素检测方法，其特征在于，将整个微显示面板划分为M×N个测试分区，随后对每一个测试分区分别执行像素检测。
4.根据权利要求1所述的像素检测方法，其特征在于，在一个实施例中，所述第一阈值为计数单元的存储上限。
5.根据权利要求1所述的像素检测方法，其特征在于，所述第一阈值为255。
6.一种用于执行权利要求1-5之一的像素检测方法的像素检测电路，其特征在于，所述电路包括：测试图形生成单元、ADC转换模块、电流值比较单元及计数单元；所述测试图形生成单元用于生成第一至第四测试图像，并传输至微显示面板进行显示；所述ADC转换模块用于采集微显示面板的公共电流，并将公共电流转换为数字信号输入至电流值比较单元，所述电流值比较单元对不同测试图像下的公共电流值进行比较以检测出缺陷像素；所述计数单元；用于统计及存储缺陷像素数量。
7.
8.根据权利要求6所述的像素检测电路，其特征在于，所述像素检测电路内部的通讯基于I2C总线协议实现。
9.一种基于权利要求1-5之一的像素检测方法的像素屏蔽方法，所述像素屏蔽方法包括：
10.根据权利要求9所述的像素屏蔽方法，其特征在于，当实施像素屏蔽的像素行的数量达到冗余像素行数时，则停止行像素屏蔽；当实施像素屏蔽的像素列的数量达到冗余像素列数时，则停止列像素屏蔽。
...【技术特征摘要】
1.一种微显示屏的像素检测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的像素检测方法，其特征在于，每一次切换测试图形后，等待预定时长后，再采集并存储公共电流值。
3.根据权利要求1所述的像素检测方法，其特征在于，将整个微显示面板划分为m×n个测试分区，随后对每一个测试分区分别执行像素检测。
4.根据权利要求1所述的像素检测方法，其特征在于，在一个实施例中，所述第一阈值为计数单元的存储上限。
5.根据权利要求1所述的像素检测方法，其特征在于，所述第一阈值为255。
6.一种用于执行权利要求1-5之一的像素检测方法的像素检测电路，其特征在于，所述电路包括：测试图形生成单元、adc转换模块、电流值比较单元及计数单元；所述测试图形生成单元用于生成第一至第四测试图像，并传输至微显示面板进行显示；所述adc转换模块用...
【专利技术属性】
技术研发人员：苏畅，黄苒，赵博华，
申请(专利权)人：北京数字光芯集成电路设计有限公司，
类型：发明
国别省市：
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