System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 晶片级测序流通池制造制造技术_技高网

晶片级测序流通池制造制造技术

技术编号:41399454 阅读:5 留言:0更新日期:2024-05-20 19:23
一种用于形成测序流通池的方法包括:提供覆盖有介电层的半导体晶片;并且在所述介电层上形成图案化层。所述图案化层具有差异表面,所述差异表面包括交替的第一表面区域和第二表面区域。所述方法还可以包括:将所述盖晶片附着于所述半导体晶片以形成复合晶片结构,所述复合晶片结构包括多个流通池。然后切割所述复合晶片结构以形成多个管芯。每个管芯包括流通池。所述测序流通池可以包括:入口和出口,在所述图案化层的一部分与所述盖晶片的一部分之间的流动通道。此外,所述方法可以包括对所述测序流通池进行功能化以产生差异表面。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术总体上涉及用于生物学或化学分析的生物传感器,并且更具体地,涉及形成测序流通池的方法,包括在晶片级进行封装。


技术介绍

1、化学物质和/或生物物质的高通量分析是诊断和治疗领域中的重要工具。可以将附接的一系列化学物质和/或生物物质设计为定义特定的靶序列,分析基因表达模式,识别特定的等位基因变异,确定dna序列的拷贝数以及在全基因组范围内识别蛋白质的结合位点(例如转录因子和其他调节分子)。在一个具体的示例中,人类基因组计划的到来要求开发改进的核酸测序方法,例如dna(脱氧核糖核酸)和rna(核糖核酸)测序方法。单倍体人类基因组的整个3,000,000,000碱基序列的确定为鉴定多种疾病的遗传基础提供了基础。

2、高通量分析(例如,大规模平行dna测序)经常用流通池,流通池含有可用于进行分析的化学及/或生物物质阵列。在各种配置中,作为用来进行生物分析的整体系统的一部分的检测流通池包括承载物(carrier),该承载物中可提供试验基板(assay substrate),其中大部分的试验基板可用来进行生化分析,因为这些流通池的承载物部件设计成可提供功能性,在现有技术系统中是由试验基板本身来呈现该功能性。这些流通池可用于自动化系统中且通常呈平坦状以用于成像。这些流通池的部件的各种配置可使蒸发作用减至最小,还使得能精确地控制流体的吸入与排出。

3、现行许多流通池设计的制造及使用可能成本高,且该流通池设计在功能化表面区域的利用率上通常效率低,使得利用该流通池所能获取的数据量减少。


技术实现思路

1、本专利技术的实施方案提供用于dna测序应用的纳米阵列流通池的晶片级芯片封装方法。晶片级封装技术可实质降低流通池的制造成本。在某些实施方案中,在这些晶片上形成硬的差异表面,可选择性地对这些硬差异表面进行功能化以用于装载dna纳米球(dnbloading)。此所述实施方案中形成的硬表面可承受标准半导体晶片级的制造及封装工艺而无任何复杂的限制条件,从而能增进制造及芯片封装产率。

2、根据一些实施方案,一种用于形成测序流通池的方法包括:提供覆盖有介电层的半导体晶片;并且在所述介电层上形成图案化层。所述图案化层具有差异表面,所述差异表面包括交替的第一表面区域和第二表面区域。所述方法还可以包括:将所述盖晶片附着于所述半导体晶片以形成复合晶片结构,所述复合晶片结构包括多个流通池。然后切割所述复合晶片结构以形成多个管芯。每个管芯形成测序流通池。所述测序流通池可以包括:入口和出口、在所述图案化层与所述盖晶片之间的流动通道。所述测序流通池可以包括:在所述图案化层中的一或多个第一表面区域和在所述图案化层中的一或多个第二表面区域。此外,所述方法可以包括对所述测序流通池进行功能化以产生差异表面。

3、在上述方法的一些实施方案中,所述第一表面区域为亲水性表面,而所述第二表面区域为疏水性表面。在一些实施方案中,所述第一表面区域为疏水性表面,而所述第二表面区域为亲水性表面。在一些实施方案中,在测序流通池中,第一表面区域或第二表面区域是被配置用于接收核酸大分子以用于测序的亲水性表面。

4、在一些实施方案中,所述方法还包括在附着所述盖晶片之前,于所述半导体晶片中形成多个通孔,所述多个通孔被配置用作所述流通池的入口和出口。

5、在一些实施方案中,所述方法还包括在将所述盖晶片附着于所述半导体晶片之前,在所述盖晶片中形成入口和出口。

6、在一些实施方案中,所述半导体晶片还可以包括位于所述介电层下方的cmos层。

7、在一些实施方案中,形成图案化层可以包括:在所述半导体晶片上的所述介电层上形成金属氧化物层;以及将所述金属氧化物层图案化而成为多个金属氧化物区域。所述金属氧化物区域是配置用来接收核酸大分子。

8、在一些实施方案中,形成图案化层可以包括:形成金属氧化物层;在所述金属氧化物层上形成氧化硅层;以及图案化所述氧化硅层。所述金属氧化物层未被所述氧化硅层所覆盖的区域被配置用来接收核酸大分子。

9、在一些实施方案中,所述方法还包括:在将所述盖晶片附着于所述半导体晶片之前,在所述半导体晶片上形成支撑结构。

10、在一些实施方案中,所述方法还包括:使所述盖晶片与所述支撑结构接合。

11、在一些实施方案中,所述盖晶片可以包括玻璃晶片。

12、在一些实施方案中,所述方法还可以包括:对所述测序流通池进行功能化,其中对所述测序流通池进行功能化可以包括:使所述流动通道暴露于经由所述入口和出口所提供的材料。

13、在一些实施方案中,切割所述复合晶片结构可以包括:使用晶片切割工艺将所述复合晶片结构分割成独立的管芯。

14、根据一些实施方案,一种用于形成测序流通池的方法可以包括:提供半导体晶片,所述半导体晶片具有介电层,所述介电层覆盖在互补金属-氧化物-半导体(cmos)层上。所述cmos层可以包括:光感测层,所述光感测层包括多个光电二极管,以及电子电路层,所述电子电路层耦合至所述光感测层以用于处理所感测到的信号。所述方法可以包括:在所述介电层上形成图案化层,所述图案化层具有交替的金属氧化物区域和氧化硅区域。所述方法可以包括:将玻璃晶片附着于所述半导体晶片以形成复合晶片结构。所述玻璃晶片可以包括多个孔。所述复合晶片结构包括多个测序流通池。每个测序流通池可以包括:玻璃层,所述玻璃层具有孔,所述孔被配置作为所述测序流通池的入口和出口。每个测序流通池可以包括:多个金属氧化物区域和氧化硅区域,以及在所述玻璃层与所述多个金属氧化物区域以及氧化硅区域之间的流动通道。可以切割所述复合晶片结构以形成多个管芯,每个管芯可以包括测序流通池。

15、在上述方法的一些实施方案中,形成图案化层可以包括:在所述半导体晶片上的所述介电层上形成金属氧化物层;以及将所述金属氧化物层图案化而成为多个金属氧化物区域。所述金属氧化物区域被配置用来接收核酸大分子。

16、在一些实施方案中,形成图案化层可以包括:形成金属氧化物层;在所述金属氧化物层上形成氧化硅层;以及图案化所述氧化硅层。所述金属氧化物层未被所述氧化硅层所覆盖的区域被配置用来接收核酸大分子。

17、在一些实施方案中,所述方法还包括:使所述玻璃晶片与所述半导体晶片接合。该接合步骤可以与本文所述的方法的步骤的各种组合一起使用。

18、在一些实施方案中,所述方法还可以包括对所述测序流通池进行功能化,并且对所述测序流通池进行功能化可以包括:使所述测序流通池暴露于经由所述入口和出口所提供的材料。该功能化步骤可以与本文所述的方法的步骤的各种组合一起使用。

19、根据一些实施方案,一种用于形成测序流通池的方法可以包括:提供覆盖有介电层的半导体晶片;以及在所述介电层上形成图案化层。所述图案化层可以具有交替的金属氧化物区域和氧化物区域。所述方法还可以包括:形成贯穿所述半导体晶片的多个通孔;以及将玻璃晶片附着于所述半导体晶片以形成复合晶片结构。然后可以切割所本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于形成具有差异表面的设备结构的方法,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其中所述斑点或孔的宽度或直径在100纳米到1微米之间的范围并且每个斑点或孔被配置成接收核酸大分子。

3.根据权利要求2所述的方法,其中所述第一薄膜区域包括金属或金属氧化物材料,所述金属或金属氧化物材料包括阳极氧化铝(Al2O3)、氧化钽(Ta2O5)、氧化铌(Nb2O5)、氧化锆(ZrO2)和氧化钛(TiO2)中的一个或多个。

4.根据权利要求3所述的方法,其中所述第一材料包括膦酸或磷酸盐。

5.根据权利要求2-4中任一项所述的方法,其中所述第二薄膜区包括氧化硅。

6.根据权利要求5所述的方法,其中所述第二材料包括硅烷。

7.根据权利要求2-6中任一项所述的方法,其中用于形成所述设备的方法包括用于形成至少一个测序流动池的方法。

8.根据权利要求7所述的方法还包括:

9.根据权利要求8所述的方法,还包括在连接所述盖晶片之前在所述基板中形成多个通孔,所述多个通孔被配置为所述流动池的所述入口和出口。</p>

10.根据权利要求8所述的方法,还包括在连接所述盖晶片之前在所述盖晶片中形成多个通孔,所述多个通孔被配置为所述流动池的所述入口和出口。

11.根据权利要求8-10中任一项所述的方法,其中所述基板包括覆盖有电介质层的半导体晶片,并且其中所述图案化表面层在所述电介质层上形成。

12.根据权利要求11所述的方法,其中所述半导体晶片还包括在所述介电层下的互补金属氧化物半导体层。

13.根据权利要求11或12所述的方法,其中形成所述图案层包括:

14.根据权利要求11或12所述的方法,其中形成所述图案化层包括:

15.根据权利要求12-14中任一项所述的方法,其中所述互补金属氧化物半导体层包括:光感测层,所述光感测层包括多个光电二极管;并且与所述光感测层耦合以处理感测到的信号的电子电路层。

16.根据权利要求8-14中任一项所述的方法,其中形成所述第一和第二覆盖层包括通过所述入口和出口的至少部分将所述流体通道暴露于所述第一和第二材料。

17.根据权利要求1所述的方法,其中形成所述第一覆盖层包括将金属氧化物区域暴露于聚乙烯基膦酸(PVPA)以形成亲水性覆盖层。

18.根据权利要求1所述的方法,其中形成所述第一覆盖层包括在SAM(自组装单层)中将金属氧化物区域暴露于12-羟基十二烷基磷酸酯(OH-DDPO4)以形成亲水性覆盖层。

19.根据权利要求1所述的方法,其中形成所述第一覆盖层包括将羟基十二烷基磷酸酯铵盐的金属氧化物区域暴露,以形成疏水性覆盖层。

20.根据权利要求1所述的方法,其中形成所述第一覆盖层包括将金属氧化物区域暴露于12-羟基十二烷基磷酸酯(OH-DDPO4)的混合物和羟基十二烷基磷酸酯的混合物中从而形成疏水性可调的第一覆盖层。

21.根据权利要求1所述的方法,其中形成所述第二覆盖层包括将所述氧化硅区域暴露于疏水性硅烷以形成疏水性覆盖层。

22.根据权利要求21所述的方法,其中所述疏水性硅烷包括氟化烷基-硅烷或二烷基-硅烷。

23.根据权利要求1所述的方法,其中形成所述第二覆盖层包括将所述氧化硅区域暴露于亲水性硅烷以形成亲水性覆盖层。

24.根据权利要求23所述的方法,其中所述亲水性硅烷包括具羟烷基末端的硅烷。

25.根据权利要求1所述的方法,其中所述基板包括裸半导体基板。

26.根据权利要求1所述的方法,其中所述基板包括半导体基板,所述半导体基板包括互补金属氧化物半导体电路和背面照射(BSI)传感器。

27.根据权利要求1所述的方法,其中所述基板包括玻璃材料。

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【技术特征摘要】

1.一种用于形成具有差异表面的设备结构的方法,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其中所述斑点或孔的宽度或直径在100纳米到1微米之间的范围并且每个斑点或孔被配置成接收核酸大分子。

3.根据权利要求2所述的方法,其中所述第一薄膜区域包括金属或金属氧化物材料,所述金属或金属氧化物材料包括阳极氧化铝(al2o3)、氧化钽(ta2o5)、氧化铌(nb2o5)、氧化锆(zro2)和氧化钛(tio2)中的一个或多个。

4.根据权利要求3所述的方法,其中所述第一材料包括膦酸或磷酸盐。

5.根据权利要求2-4中任一项所述的方法,其中所述第二薄膜区包括氧化硅。

6.根据权利要求5所述的方法,其中所述第二材料包括硅烷。

7.根据权利要求2-6中任一项所述的方法,其中用于形成所述设备的方法包括用于形成至少一个测序流动池的方法。

8.根据权利要求7所述的方法还包括:

9.根据权利要求8所述的方法,还包括在连接所述盖晶片之前在所述基板中形成多个通孔,所述多个通孔被配置为所述流动池的所述入口和出口。

10.根据权利要求8所述的方法,还包括在连接所述盖晶片之前在所述盖晶片中形成多个通孔,所述多个通孔被配置为所述流动池的所述入口和出口。

11.根据权利要求8-10中任一项所述的方法,其中所述基板包括覆盖有电介质层的半导体晶片,并且其中所述图案化表面层在所述电介质层上形成。

12.根据权利要求11所述的方法,其中所述半导体晶片还包括在所述介电层下的互补金属氧化物半导体层。

13.根据权利要求11或12所述的方法,其中形成所述图案层包括:

14.根据权利要求11或12所述的方法,其中形成所述图案化层包括:

15.根据权利要求12-14中任一项所述的方法,其中所述互补金属氧化物半导体层包括...

【专利技术属性】
技术研发人员:李世峰龚剑林彦佑诚·弗兰克·钟
申请(专利权)人:深圳华大智造科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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