【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及λ/4板的缺点检查方法。
技术介绍
1、在液晶显示装置(lcd)、有机电致发光显示装置(oled)等图像显示装置中，以显示特性的提高、抗反射等作为目的而大多使用了相位差膜。在相位差膜的制造工序中，有时因局部的外观不良而产生缺点，需求能够以良好的灵敏度检查该缺点的方法。特别是相位差膜由液晶材料构成的λ/4板容易产生通过以往方法无法检测出的程度的轻微缺点，需求也能够检测这样的缺点的检查方法。
2、现有技术文献
3、专利文献
4、专利文献1：日本特开2013-15766号公报
技术实现思路
1、专利技术所要解决的课题
2、本专利技术是为了解决上述课题而进行的，其目的在于提供能够以良好的灵敏度检查λ/4板的缺点的缺点检查方法。
3、用于解决课题的手段
4、[1]本专利技术的λ/4板的缺点检查方法包括：将第一起偏器、第一λ/4板、第二λ/4板和第二起偏器依次配置；及从该第一起偏器侧的面入射光，并对该第二起偏器侧的面的外观进行观察，使该第一起偏器的吸收轴与该第二起偏器的吸收轴正交，使该第一λ/4板的慢轴与该第二λ/4板的慢轴正交，将该第一起偏器的吸收轴与该第一λ/4板的慢轴所成的角设定为35°～55°，并且，将该第二起偏器的吸收轴与该第二λ/4板的慢轴所成的角设定为35°～55°，包括将该第一λ/4板的波长分散特性与该第二λ/4板的波长分散特性设定为大致相同。
5、[2]在上述[1]的λ/4板的缺
6、[3]在上述[1]或[2]的λ/4板的缺点检查方法中，上述第一λ/4板的面内相位差re1与上述第二λ/4板的面内相位差re2也可以被设定为re1<re2。
7、[4]本专利技术的λ/4板的缺点检查方法包括：将第一起偏器、第一λ/4板、第二λ/4板和第二起偏器依次配置；及从该第一起偏器侧的面入射光，并对该第二起偏器侧的面的外观进行观察，将该第一起偏器的吸收轴与该第二起偏器的吸收轴设定为平行，将该第一λ/4板的慢轴与该第二λ/4板的慢轴设定为平行，将该第一起偏器的吸收轴与该第一λ/4板的慢轴所成的角设定为35°～55°，并且，将该第二起偏器的吸收轴与第二λ/4板的慢轴所成的角设定为35°～55°，包括将该第一λ/4板的波长分散特性与该第二λ/4板的波长分散特性设定为大致相同。
8、[5]在上述[4]的λ/4板的缺点检查方法中，上述第一λ/4板的面内相位差re1与上述第二λ/4板的面内相位差re2之差的绝对值也可以为20nm以下。
9、专利技术效果
10、根据本专利技术，能够提供能够以良好的灵敏度检查包含λ/4板的光学层叠体的缺点的缺点方法。
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1.一种λ/4板的缺点检查方法，其包括：将第一起偏器、第一λ/4板、第二λ/4板和第二起偏器依次配置；及从该第一起偏器侧的面入射光，并对该第二起偏器侧的面的外观进行观察，
2.根据权利要求1所述的λ/4板的缺点检查方法，其中，所述第一λ/4板的面内相位差Re1与所述第二λ/4板的面内相位差Re2之差的绝对值为20nm以下。
3.根据权利要求1或2所述的λ/4板的缺点检查方法，其中，所述第一λ/4板的面内相位差Re1与所述第二λ/4板的面内相位差Re2被设定为Re1<Re2。
4.一种λ/4板的缺点检查方法，其包括：将第一起偏器、第一λ/4板、第二λ/4板和第二起偏器依次配置；及从该第一起偏器侧的面入射光，并对该第二起偏器侧的面的外观进行观察，
5.根据权利要求4所述的λ/4板的缺点检查方法，其中，所述第一λ/4板的面内相位差Re1与所述第二λ/4板的面内相位差Re2之差的绝对值为20nm以下。
【技术特征摘要】
1.一种λ/4板的缺点检查方法，其包括：将第一起偏器、第一λ/4板、第二λ/4板和第二起偏器依次配置；及从该第一起偏器侧的面入射光，并对该第二起偏器侧的面的外观进行观察，
2.根据权利要求1所述的λ/4板的缺点检查方法，其中，所述第一λ/4板的面内相位差re1与所述第二λ/4板的面内相位差re2之差的绝对值为20nm以下。
3.根据权利要求1或2所述的λ/4板的缺点检查方法，其中，所述第一λ/4板的面内...
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