本发明专利技术公开了一种机械发光材料测试用摩擦测试系统，属于机械发光材料的性能表征领域，包括施力组件、摩擦组件、光导组件和光信息分析组件，施力组件与摩擦组件位于同一直线，光导组件可固定于数字式推拉力计的测试端，光导组件对接有特种光纤，特种光纤的另一端对接高灵敏光纤光谱仪。通过摩擦笔头直接收集光信号后高灵敏光纤光谱仪进行信息转换处理，提高光收集的效率，减小测试误差，高透光材料用作摩擦笔头，减小光信号损失，提高了测试结果的可信度；采用数字式推拉力计与手动位移台组合，结构简单，方便操控，能为摩擦系统负载适合的机械力，本发明专利技术可用于测试不同机械力下的摩擦发光光谱，材料循环性测试，机械发光材料对机械力灵敏度测试。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及机械发光材料的性能表征领域，尤其涉及一种机械发光材料测试用摩擦测试系统。
技术介绍
1、机械发光是材料在摩擦、拉伸、断裂、压缩等外力的机械刺激下发光的现象。机械发光的最大特点是可以直接将机械力转化为光，这与光致发光(pl)、电致发光(el)、化学发光(cl)和生物发光(bl)等发光最大的区别在于激发源不同。机械发光材料因其机理不同，可分为自恢复型和陷阱控制型。机械发光材料由于掺杂源不同，在机械力刺激下可以发出可见光或近红外光，有的甚至可以发出红外光。正是由于这些独特的应力发光特性，使得ml材料在应力检测、防伪加密、新型光源、生物成像等方面具有巨大的应用潜力。特别是摩擦机械发光在防伪领域有着现象级的潜力，在签名过程中，通过改变签字速度和力度，可在机械发光薄膜上得到不同强度的应力发光，记录这些信号能反映签字者的个人签名习惯，从而用于防伪识别。但是在对机械发光材料进行摩擦测试的过程中，摩擦笔头会严重阻挡材料发出的光，从而使得测试数据与真实值存在巨大的误差。因此，就需要测试系统的收光组件能更大程度上完成机械发光的收集。
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【技术保护点】
1.一种机械发光材料测试用摩擦测试系统，其特征在于：包括施力组件(1)、摩擦组件(2)、光导组件(3)和光信息分析组件(4)，所述施力组件(1)包括数字式推拉力计(101)、手动位移台(102)和光学减震台(5)，所述光学减震台(5)固定于手动位移台(102)上，所述数字式推拉力计(101)固定于光学减震台(5)上；所述摩擦组件(2)包括固定脚架(201)、步进电机(202)、电控开关(203)和光学减震台(5)，所述光学减震台(5)固定于固定脚架(201)上，所述步进电机(202)固定于光学减震台(5)上，所述电控开关(203)连接于步进电机(202)一侧，所述步进电机(202)的输出...
【技术特征摘要】
1.一种机械发光材料测试用摩擦测试系统，其特征在于：包括施力组件(1)、摩擦组件(2)、光导组件(3)和光信息分析组件(4)，所述施力组件(1)包括数字式推拉力计(101)、手动位移台(102)和光学减震台(5)，所述光学减震台(5)固定于手动位移台(102)上，所述数字式推拉力计(101)固定于光学减震台(5)上；所述摩擦组件(2)包括固定脚架(201)、步进电机(202)、电控开关(203)和光学减震台(5)，所述光学减震台(5)固定于固定脚架(201)上，所述步进电机(202)固定于光学减震台(5)上，所述电控开关(203)连接于步进电机(202)一侧，所述步进电机(202)的输出端设有样品夹(204)；所述光导组件(3)包括摩擦笔头(301)，所述摩擦笔头(301)的尖端为摩擦接触点(302)，所述摩擦笔头(301)远离摩擦接触点(302)的一端设有耦合准直透镜(303)，所述耦合准直透镜(303)远离摩擦笔头(301)的一端设置于光纤线接口(304)；所述光信息分析组件(4)包括高灵敏光纤光谱仪(401)，所述高灵敏光纤光谱仪(401)的一侧连接有光谱分析计算机(402)；所述施力组件(1)与摩擦组件(2)位于同一直线，所述光导组件(3)可固定于数字式推拉力计(101)的...
【专利技术属性】
技术研发人员：张泽青，刘伟，赵景泰，王强，王志成，陈要菁，史瑞，阮兰君，
申请(专利权)人：桂林电子科技大学，
类型：发明
国别省市：
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