【技术实现步骤摘要】
本专利技术提出了一种三维闪存老化测试方法及系统，涉及三维闪存老化测试，具体涉及双排双面金手指的三维闪存老化测试。
技术介绍
1、三维闪存(3d-nand flash)因其超大容量，在电性能测试尤其是老化测试时，通常需要非常长的测试时间，业界普遍的解决方案为尽量提高老化测试的同测密度，利用高密度多通道老化测试方式去分摊每个芯片的测试成本。而市场上普遍应用的老化测试板因设备炉内宽度局限，无法做到超过300个金手指触点。传统的老化测试方法通常采用单通道测试，即每次仅对一个通道进行测试。然而，这种方法存在测试效率低下、测试资源利用率低等问题。为了提高测试效率，多通道老化测试技术应运而生。多通道老化测试能够同时对多个通道进行测试，从而显著提高测试速度。然而，多通道老化测试也带来了新的挑战。由于测试数据量的大幅增加，如何有效处理和分析这些数据成为了一个亟待解决的问题。同时，不同的通道可能存在不同的老化情况，因此需要针对每个通道进行精细化的测试和优化。在现有的技术中，虽然有一些方法可以对测试数据进行处理和分析，但往往缺乏对异常数据的精准识别和针对性优...
【技术保护点】
1.一种三维闪存老化测试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述一种三维闪存老化测试方法，其特征在于，所述a包括：
3.根据权利要求1所述一种三维闪存老化测试方法，其特征在于，所述b包括：
4.根据权利要求1所述一种三维闪存老化测试方法，其特征在于，所述c包括：
5.根据权利要求1所述一种三维闪存老化测试方法，其特征在于，所述计算测试错误值，对测试老化程度进行评估，获得而评估结果，包括：
6.一种三维闪存老化测试系统，其特征在于，所述系统包括：
7.根据权利要求6所述一种三维闪存老...
【技术特征摘要】
1.一种三维闪存老化测试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述一种三维闪存老化测试方法，其特征在于，所述a包括：
3.根据权利要求1所述一种三维闪存老化测试方法，其特征在于，所述b包括：
4.根据权利要求1所述一种三维闪存老化测试方法，其特征在于，所述c包括：
5.根据权利要求1所述一种三维闪存老化测试方法，其特征在于，所述计算测试错误值，对测试老化程度进行评估，获得而评估结果，包括：
...【专利技术属性】
技术研发人员：尤力，何俊明，索鑫，高先圣，曹梓晏，
申请(专利权)人：真贺科技江苏有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。