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本发明提出了一种三维闪存老化测试方法及系统，涉及三维闪存老化测试技术领域，进行双排双面金手指测试连接，获取老化测试任务，对三维闪存进行多通道老化测试；获取第一测试数据，根据所述第一测试数据获取异常数据种类的数据偏离值，根据异常数据种类进行老...
该专利属于真贺科技（江苏）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过真贺科技（江苏）有限公司授权不得商用。

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