【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体制造领域,特别是指一种超高压电阻的结构和工艺方法。
技术介绍
1、bcd工艺是指将bipolar、cmos和dmos三种工艺整合在一起的系列工艺技术,也就是单片集成工艺技术。该技术最早由意法半导体(st)在1986年研发出来。bcd工艺能够把双极bipolar器件、cmos器件、dmos器件同时制造在同一芯片上。bcd工艺的优势在于,整合了双极器件bipolar的高跨导、强负载驱动能力和cmos的集成度高、低功耗的优点,还集成了dmos功率器件,让dmos在开关模式下工作,功耗极低。
2、目前在bcd工艺中的超高压电阻大多为如图1所示的结构,所示的结构中为一ldmos器件,集成在超高压器件的漂移区部分,漂移区的衬底表面具有一大块场氧locos,电阻即集成在场氧上,其中电阻的一端(high)是与漏端场板相连,包括漏端的多晶硅场板和金属场板,形成一个整体,电阻的另一端(low)形成接触端。电阻之间以多晶硅线或者金属线构成电阻结构。这样的电阻耐压结构往往受限于超高压器件的击穿电压,并且通常为locos工艺,很难
...【技术保护点】
1.一种超高压电阻的工艺方法,其特征在于:包含如下的工艺步骤:
2.如权利要求1所述的超高压电阻的工艺方法,其特征在于:在所述的半导体衬底上形成外延层,然后在所述的外延层中进行后续的工艺步骤;所述的半导体衬底包括硅衬底,或者是氮化镓、氮化硅的宽禁带半导体衬底。
3.如权利要求1所述的超高压电阻的工艺方法,其特征在于:所述的硬掩模层为氧化硅层,或者是氮化硅层。
4.如权利要求1所述的超高压电阻的工艺方法,其特征在于:所述的深沟槽采用干法刻蚀工艺,对所述的半导体衬底进行刻蚀;根据设计需要,刻蚀形成的深沟槽为一个或者两个以上。
【技术特征摘要】
1.一种超高压电阻的工艺方法,其特征在于:包含如下的工艺步骤:
2.如权利要求1所述的超高压电阻的工艺方法,其特征在于:在所述的半导体衬底上形成外延层,然后在所述的外延层中进行后续的工艺步骤;所述的半导体衬底包括硅衬底,或者是氮化镓、氮化硅的宽禁带半导体衬底。
3.如权利要求1所述的超高压电阻的工艺方法,其特征在于:所述的硬掩模层为氧化硅层,或者是氮化硅层。
4.如权利要求1所述的超高压电阻的工艺方法,其特征在于:所述的深沟槽采用干法刻蚀工艺,对所述的半导体衬底进行刻蚀;根据设计需要,刻蚀形成的深沟槽为一个或者两个以上。
5.如权利要求1所述的超高压电阻的工艺方法,其特征在于:所述的绝缘介质层为氧化硅层,或者是氮化硅层;绝缘介质层的厚度根据所需耐压来决定,厚度越大耐压能力越强;所述绝缘介质层的厚度为1000å~2μm。
6.如权利要求1所述的超高压电阻的工艺方法,其特征在于:所述的多晶硅层构成所述超高压电阻的主体部分,所述的多晶硅层为掺杂的多晶硅。
7.如权利要求1所述的超高压电阻的工艺方法,其特征在于:采用回刻蚀工艺去除所述半导体衬底的表面多余的多...
【专利技术属性】
技术研发人员:蔡莹,金锋,朱兆强,王俊杰,
申请(专利权)人:上海华虹宏力半导体制造有限公司,
类型:发明
国别省市:
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