超高压电阻的结构和工艺方法技术

技术编号:41335999 阅读:25 留言:0更新日期:2024-05-20 09:55
本发明专利技术公开了一种超高压电阻,所述的超高压电阻形成于半导体衬底中的深沟槽中;所述的深沟槽的内壁附着一层具有一定厚度的绝缘介质层,然后深沟槽的剩余空间为多晶硅层,即所述的绝缘介质层呈U型将多晶硅层半包裹,以隔离所述的多晶硅层及半导体衬底;所述的半导体衬底表面具有层间介质,接触孔穿过所述层间介质将所述的多晶硅层在深沟槽的两端分别引出,形成所述的超高压电阻。本发明专利技术超高压电阻能够通过调节绝缘介质层的不同的厚度控制所需要的电阻耐压,不会受限于器件耐压,耐压可达千伏以上。并且,采用BCD工艺方法,LOCOS工艺和STI工艺都可以采用,不受限于工艺节点,制程简单,应用广泛。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体制造领域,特别是指一种超高压电阻的结构和工艺方法


技术介绍

1、bcd工艺是指将bipolar、cmos和dmos三种工艺整合在一起的系列工艺技术,也就是单片集成工艺技术。该技术最早由意法半导体(st)在1986年研发出来。bcd工艺能够把双极bipolar器件、cmos器件、dmos器件同时制造在同一芯片上。bcd工艺的优势在于,整合了双极器件bipolar的高跨导、强负载驱动能力和cmos的集成度高、低功耗的优点,还集成了dmos功率器件,让dmos在开关模式下工作,功耗极低。

2、目前在bcd工艺中的超高压电阻大多为如图1所示的结构,所示的结构中为一ldmos器件,集成在超高压器件的漂移区部分,漂移区的衬底表面具有一大块场氧locos,电阻即集成在场氧上,其中电阻的一端(high)是与漏端场板相连,包括漏端的多晶硅场板和金属场板,形成一个整体,电阻的另一端(low)形成接触端。电阻之间以多晶硅线或者金属线构成电阻结构。这样的电阻耐压结构往往受限于超高压器件的击穿电压,并且通常为locos工艺,很难进一步减小工艺节点。本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种超高压电阻的工艺方法,其特征在于:包含如下的工艺步骤:

2.如权利要求1所述的超高压电阻的工艺方法,其特征在于:在所述的半导体衬底上形成外延层,然后在所述的外延层中进行后续的工艺步骤;所述的半导体衬底包括硅衬底,或者是氮化镓、氮化硅的宽禁带半导体衬底。

3.如权利要求1所述的超高压电阻的工艺方法,其特征在于:所述的硬掩模层为氧化硅层,或者是氮化硅层。

4.如权利要求1所述的超高压电阻的工艺方法,其特征在于:所述的深沟槽采用干法刻蚀工艺,对所述的半导体衬底进行刻蚀;根据设计需要,刻蚀形成的深沟槽为一个或者两个以上。

>5.如权利要求1所...

【技术特征摘要】

1.一种超高压电阻的工艺方法,其特征在于:包含如下的工艺步骤:

2.如权利要求1所述的超高压电阻的工艺方法,其特征在于:在所述的半导体衬底上形成外延层,然后在所述的外延层中进行后续的工艺步骤;所述的半导体衬底包括硅衬底,或者是氮化镓、氮化硅的宽禁带半导体衬底。

3.如权利要求1所述的超高压电阻的工艺方法,其特征在于:所述的硬掩模层为氧化硅层,或者是氮化硅层。

4.如权利要求1所述的超高压电阻的工艺方法,其特征在于:所述的深沟槽采用干法刻蚀工艺,对所述的半导体衬底进行刻蚀;根据设计需要,刻蚀形成的深沟槽为一个或者两个以上。

5.如权利要求1所述的超高压电阻的工艺方法,其特征在于:所述的绝缘介质层为氧化硅层,或者是氮化硅层;绝缘介质层的厚度根据所需耐压来决定,厚度越大耐压能力越强;所述绝缘介质层的厚度为1000å~2μm。

6.如权利要求1所述的超高压电阻的工艺方法,其特征在于:所述的多晶硅层构成所述超高压电阻的主体部分,所述的多晶硅层为掺杂的多晶硅。

7.如权利要求1所述的超高压电阻的工艺方法,其特征在于:采用回刻蚀工艺去除所述半导体衬底的表面多余的多...

【专利技术属性】
技术研发人员:蔡莹金锋朱兆强王俊杰
申请(专利权)人:上海华虹宏力半导体制造有限公司
类型:发明
国别省市:

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