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一种磁瓦表面的缺陷分割方法技术

技术编号:41329337 阅读:20 留言:0更新日期:2024-05-13 15:07
本发明专利技术适用于磁瓦缺陷分割领域,尤其涉及一种磁瓦表面的缺陷分割方法。与现有技术相比,本发明专利技术通过获取磁瓦数据集;建立高斯残差注意力卷积网络,将磁瓦数据集作为高斯残差注意力卷积网络的输入,通过高斯残差注意力卷积网络对磁瓦数据集中的缺陷特征进行建模,得到缺陷特征图;建立多视图循环卷积网络,将缺陷特征图作为多视图循环卷积网络的输入进行训练,得到多视图残差注意力网络模型;获取待检测磁瓦图像,通过多视图残差注意力网络模型对待检测磁瓦图像进行缺陷分割,得到缺陷分割结果。这样本发明专利技术有效提高磁瓦表面缺陷分割的精度和效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术适用于磁瓦缺陷分割领域,尤其涉及一种磁瓦表面的缺陷分割方法


技术介绍

1、磁瓦是永磁电机的关键部件之一,广泛用于为电机工作提供磁场。然而,复杂的生产过程不可避免地会产生各种缺陷,例如细长裂纹和微小气孔,从而导致不可预测的后果或灾难。因此,有必要设计一种有效的工具来从磁瓦表面进行缺陷分割。

2、目前,磁瓦生产中缺陷检测由人工实施,但耗时长且检测结果也不可靠。为了解决这个问题,研究人员提出了许多自动检测磁瓦表面缺陷的方法,这些方法可以分为现有算法和基于深度学习的方法。在现有算法中,通过平稳小波变换检测磁瓦上的缺陷。此外,还提出了基于多尺度几何分析的剪切波变换来提取磁瓦中的缺陷。这些算法对磁瓦表面的小缺陷灵敏度较低,导致在复杂背景下出现故障。

3、基于深度学习的网络在计算机视觉上的出色表现,例如图像分类、目标检测和语义分割,因此它也应用于磁瓦上的缺陷检测。例如通过环形融合卷积神经网络来检测磁瓦上的小缺陷,然而,物体检测时必须对数据进行标记和分类,费时费力,且在低对比度图像中表现出较低的分割精度;如基于yolov5的磁瓦缺陷检测本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种磁瓦表面的缺陷分割方法,其特征在于,所述缺陷分割方法包括以下步骤:

2.如权利要求1所述的磁瓦表面的缺陷分割方法,其特征在于,步骤S2中,还包括以下子步骤:

3.如权利要求1所述的磁瓦表面的缺陷分割方法,其特征在于,步骤S3中,还包括以下子步骤:

4.如权利要求2所述的磁瓦表面的缺陷分割方法,其特征在于,定义所述高斯残差注意力卷积网络为GRAC,则所述高斯残差注意力卷积网络满足以下关系式:

5.如权利要求4所述的磁瓦表面的缺陷分割方法,其特征在于,定义所述多视图循环卷积网络为MVCC,则所述多视图循环卷积网络满足以下关系式:

【技术特征摘要】

1.一种磁瓦表面的缺陷分割方法,其特征在于,所述缺陷分割方法包括以下步骤:

2.如权利要求1所述的磁瓦表面的缺陷分割方法,其特征在于,步骤s2中,还包括以下子步骤:

3.如权利要求1所述的磁瓦表面的缺陷分割方法,其特征在于,步骤s3中,还包括以下子步骤:

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【专利技术属性】
技术研发人员:廖勇李翔彭乘风廖芳芳林安平刘祥贵欧盛强
申请(专利权)人:湘南学院
类型:发明
国别省市:

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