本发明专利技术提供一种光拾取器装置和使用其的光盘装置,能够减少由不要光束引起的检测信号的变动,检测高品质的信号。构成为能够在比主光束和副光束的分光比小的放大率实现当用DPP方式生成跟踪误差信号时所需的副PP信号的信号放大。光拾取器装置,具有使一部分光束衍射的区域的光学元件,在光检测器的副光束受光面中在中央分割线上形成具有规定宽度的遮光带或不工作区。使上述衍射区域对物镜移位量形状最佳化。根据物镜移位量和上述衍射区域形状使遮光带或不工作区的宽度最佳化。根据这种构成,能够抑制放大器放大由在副PP信号中发生的不要光引起的干涉干扰成分,即便当多层光盘的再现/记录时也能够稳定地检测出良好的波形摇动少的跟踪误差信号。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光拾取器装置和光盘装置。
技术介绍
作为本
的
技术介绍
,例如是日本特开2006-344344号专利公报(专利文 献1)。在本专利公报中,记载着从具有多个记录层的光盘高精度地取得所要信号。另外, 例如是日本特开2006-344380号专利公报(专利文献2)。在该专利公报中,记载着即便 在用具有2个信息记录面的可以记录的光存储介质的情形中,也能够检测出偏离少的跟踪 误差信号。[专利文献1]日本特开2006-344344号专利公报(第26页,图3,图5) [专利文献2]日本特开2006-344380号专利公报(第14页,图1)
技术实现思路
近年来,当记录层多层化的光盘进行记录/再现时,存在着由不是再现对象的记 录层所反射的不要光束入射到光检测器面上成为干扰成分,使光检测器的检测信号变动的 课题。特别是在使记录层3层以上地多层化了的光盘中,因为在多个层中发生不要光束,所 以干扰成分增加上述检测信号的变动也增大。 用专利文献1中记载的方法,能够抑制上述检测信号的由不要光束引起的变动。 但是,专利文献1中记载的方法具有因为要追加很多的光学部件,要求非常高的部件安装 位置精度,所以成为高成本的光拾取器装置那样的课题。 本专利技术的目的是以更低的成本量产性良好地提供能够减少由不要光束引起的干扰成分漏入到检测信号中,从而检测出高品质的信号的光拾取器装置和光盘装置。上述目的,本专利技术的光拾取器装置,具有激光光源;将从该激光光源射出的激光束分割成主光束和副光束的光束分割元件;将上述主光束和副光束汇聚在光盘上的物镜;用于搭载上述物镜向规定的方向驱动物镜的致动器;配置在上述激光光源和上述物镜之间的光路上,对从上述激光光源向上述物镜的去路的光束和作为在上述光盘上反射后的返回光的回路的光束进行分离的光束分离元件;接受上述主光束和副光束的光检测器;和放大从接受上述光检测器的副光束的副光束用光检测面得到的信号的放大器,当通过规定的运算由上述光检测器的输出信号生成跟踪误差信号时,消除在上述放大器的放大率为比上述主光束和副光束的分光比小的值时物镜移位时发生的信号偏离。 如果根据本专利技术,则能够提供能够减少由不要光束引起的干扰对检测信号的影 响,从而检测出高品质的信号的光拾取器装置和光盘装置。 本专利技术的上述和其它的特征,目的和优点将从结合附图进行的下列描述变得更加清楚。 附图说明 图1是表示第1实施例中的光拾取器装置的光学系统构成的概略图。 图2是表示光检测器的现有例的概略图。 图3是表示在现有的光检测器中透镜移位时的光点的位置的概略图。 图4是表示入射到多层化了的光盘中的光束的光路的概略图。 图5是表示用放大率K2改变DPP信号的摇动的曲线图。 图6是表示作为第1实施例的主要单元的光学元件的衍射区域形状的概略图。 图7(a)是表示作为第1实施例的主要单元的光检测器的受光面形状和照射的信 号光点的配置的概略图。 图7(b)是表示作为第1实施例的主要单元的透镜移位时的光检测器的受光面形 状和透镜移位时照射的信号光点的配置的概略图。 图8是表示第1实施例的光检测器中的输出信号的信号运算方法的概略图。 图9是表示能够检测出第1实施例中的副PP信号和现有方式的副PP信号中的无论哪个副PP信号的光检测器的受光面形状的构成例的概略图。 图10是表示作为第2实施例的主要单元的光检测器的概略图。 图11是表示搭载了本专利技术中的光拾取器装置的光盘装置的一个例子的概略图。 符号说明 1…激光光源;2…衍射光栅;3…偏振光分束器;4…进步马达;5…准直透镜;6… 1/4波长板;7…物镜;8…光盘;9…致动器;10…光学元件;11…检测透镜;12…光检测器; 13…主光束光点;14…主光束受光面;15…副光束光点;16…副光束受光面;17…副光束受光面;18…副光束受光面;34…放大器;39…RF专用受光面;50…记录层(LO) ;51…记录层(Ll) ;52…记录层(L2) ;53…不要光束;54…不要光束;55…不要光束;56…不要光束; 60…衍射区域;62…副光束受光面遮光带;63…副光束受光面遮光带;910…激光点亮电 路;920…光拾取器装置;930…主轴马达;940…主轴马达驱动电路;950…存取控制电路; 960…致动器驱动电路;970…伺服信号生成电路;980…信息信号再现电路;990…信息信号记录电路;900…控制电路具体实施例方式下面,参照附图说明本专利技术的实施方式的详细情形。此外,在各图中,在表示相同作用的构成要素上附加相同的标号。[实施例1] 图1是表示与本专利技术的第1实施例涉及的光拾取器装置的一个例子的概略构成 图。从激光光源1射出的激光光束,入射到作为光束分割元件的衍射光栅2,分割成由0级 衍射光构成的主光束和由+1级和-1级衍射光构成的2条副光束。各光束,由偏振光分束 器3变更前进方向,经过由步进马达4的驱动来校正入射光束的球面像差的准直透镜5,具 有使上述主光束和副光束的一部分衍射的衍射区域的光学元件10,和将90度的相位差给 予相互垂直行进的偏振光成分的1/4波长板6,由物镜7独立地汇聚在光盘8内的规定记录 层上。 来自光盘8的反射光束再次透过物镜7后,经过1/4波长板6,光学元件10,准直 透镜5,偏振光分束器3,检测透镜11入射到光检测器12。 此外,优选将物镜7 , 1/4波长板6 ,光学元件10安装在用于沿规定方向进行驱动的5致动器9内。将后述的跟踪误差信号反馈到该致动器中,控制物镜位置,实施跟踪控制。另 外,作为上述球面像差校正部件也可以用液晶元件等。 在上述光检测器12中优选用DPP方式或DPD方式检测跟踪误差信号。下面,简单 地说明DPP方式。 图2是表示光检测器的现有例的概略图,表示DPP检测方式的一个例子。在光检 测器内配置有,由光盘反射的主光束的聚光点13所入射的受光区域14 ;和由光盘反射的副 光束的聚光点15和16所入射的受光区域17和18。其中主光束受光区域14由相互大致垂 直的2条分割线4分割的受光面构成,另一方面,副光束受光区域17和18由与光盘的半径 方向相当的方向大致垂直的分割线分别2分割的受光面构成。另外,在图2中用箭头表示 光检测器上与光盘的半径方向相当的方向(图的上下方向)。从这些分割的各受光面,分别 与入射光强度相应地产生电流,在电流_电压变换放大器19至26中分别独立地进行变换 后,由减法器27,28和31进行减法处理,分别输出主光束13的推挽信号(以下为了简单起 见,将该信号记为主PP信号。)和将副光束15, 16的推挽信号加起来得到的信号(以下为 了简单起见,将该信号记为副PP信号。)。 主光束和副光束在光盘上分开1/2轨道的间隔,并且分开1轨道的间隔照射2条 副光束。从而,使它们的信号相位相互偏离180度地输出主PP信号和副PP信号。此外在 图2中用40表示得到主PP信号的区域,用41和42表示得到副PP信号的区域。 因此通过对主PP信号和副PP信号进行减法处理,能够消除或校正主PP信号和副 PP信号两方中包含的不要的直流成分和同相位的干扰成分。 特别是当使物镜移位到半径方向时DPP方式发挥出它的效果。图3表示在使物镜 移位到半径方向时的光检测器上的光本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种光拾取器装置,其特征在于,具有:激光光源;将从该激光光源射出的激光束分割成主光束和副光束的光束分割元件;将所述主光束和副光束汇聚在光盘上的物镜;用于搭载所述物镜向规定的方向驱动物镜的致动器;配置在所述激光光源和所述物镜之间的光路上,对从所述激光光源向所述物镜的去路的光束和作为在所述光盘上反射后的返回光的回路的光束进行分离的光束分离元件;接受所述主光束和副光束的光检测器;和放大从接受所述光检测器的副光束的副光束用光检测面得到的信号的放大器,当通过规定的运算由所述光检测器的输出信号生成跟踪误差信号时,消除在所述放大器的放大率为比所述主光束和副光束的分光比小的值时物镜移位时发生的信号偏离。
【技术特征摘要】
JP 2008-12-15 2008-317832一种光拾取器装置,其特征在于,具有激光光源;将从该激光光源射出的激光束分割成主光束和副光束的光束分割元件;将所述主光束和副光束汇聚在光盘上的物镜;用于搭载所述物镜向规定的方向驱动物镜的致动器;配置在所述激光光源和所述物镜之间的光路上,对从所述激光光源向所述物镜的去路的光束和作为在所述光盘上反射后的返回光的回路的光束进行分离的光束分离元件;接受所述主光束和副光束的光检测器;和放大从接受所述光检测器的副光束的副光束用光检测面得到的信号的放大器,当通过规定的运算由所述光检测器的输出信号生成跟踪误差信号时,消除在所述放大器的放大率为比所述主光束和副光束的分光比小的值时物镜移位时发生的信号偏离。2. 根据权利要求1所述的光拾取器装置,其特征在于还具有,利用在光盘的半径方向具有短边的带状的衍射区域,将在光盘上反射的所述 主光束和副光束的光束中央部分衍射成带状的光学元件;所述副光束用受光面,被与光盘的半径方向相当的方向正交的分割线分割成2部分, 而且,形成遮断所述分割线上的光和其附近的光的遮光带,或所述分割线上的光和其附近 的光不被检测的不工作区。3. 根据权利要求1所述的光拾取器装置,其特征在于形成于所述光学元件的带状衍射区域的、所述光盘的半径方向的宽度,在比所述物镜 的能够进行透镜移位的范围长,且比光束直径的50%短的范围内。4. 根据权利要求1所述的光拾取器装置,其特征在于形成于所述副光束用受光面的遮光带或不工作区的,与所述光盘的半径方向相当的方 向的宽度,在比在照射在所述副光束用受光面上的所述副光束的聚光点内因所述光学元件 的衍射效果形成的暗部区域的与光盘半径方向相当的方向的加上了波动光学的影响后的 实效宽度,与照射在所述副光束用受光面上的所述副光束的聚光点因物镜移位产生的移动 量的最大值的和长,且比照射在所述副光束用受光面上...
【专利技术属性】
技术研发人员:中村俊辉,
申请(专利权)人:日立视听媒介电子股份有限公司,
类型:发明
国别省市:JP[日本]
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