一种银合金键合丝抗老化性测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种银合金键合丝抗老化性测试装置，属于测试装置领域。一种银合金键合丝抗老化性测试装置，包括底座，还包括：立板，固定连接在所述底座的上端，其中，所述立板的前端底部固定安装有第一夹具，所述立板的前端顶部设有第一滑槽，所述第一滑槽内滑动安装有第二夹具，所述第一滑槽内设有刻度尺；拉升部件，设置在所述立板的顶部，所述拉升部件用于拉动第二夹具；装置槽，设置在所述立板的前端面，并设置于所述第一夹具与第二夹具之间，其中，所述装置槽内设有往复部件，所述往复部件用于往复刮动键合丝；本发明专利技术可以使键合丝受到不同环境的各项测试，进而键合丝的测试更加全面高效。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测试装置，尤其涉及一种银合金键合丝抗老化性测试装置。

技术介绍

1、银合金键合丝是一种由纯银和其他金属元素合金化制成的细丝，其常用于珠宝制作、电子器件连接、电气导线等领域。由于银具有良好的导电性和导热性，而其他金属元素可以增加合金的硬度和耐腐蚀性，因此银合金键合丝在电子器件和电气导线中广泛应用。

2、银合金键合丝的优点包括高强度、良好的导电性和导热性、耐腐蚀性和耐磨性。它还可以通过不同的合金配方和处理工艺来获得不同的性能和特性，以适应不同的应用需求。

3、键合丝的强度、拉伸强度以及电阻是键合丝的重要性能指标，目前，对单条键合丝进行抗老化性测试时，多是对键合丝进行单项的进行检测，不能够进行一次性完成各项指标的检测，不仅测试效率，并且测试过程也不够全面。

技术实现思路

1、本专利技术的目的是为了解决现有技术中，对键合丝的测试效率低且不全面的问题，而提出的一种银合金键合丝抗老化性测试装置。

2、为了实现上述目的，本专利技术采用了如下技术方案：p>

3、一种银本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种银合金键合丝抗老化性测试装置，包括底座(1)，其特征在于，还包括：

2.根据权利要求1所述的一种银合金键合丝抗老化性测试装置，其特征在于，所述拉升部件包括：

3.根据权利要求1所述的一种银合金键合丝抗老化性测试装置，其特征在于，所述往复部件包括：

4.根据权利要求3所述的一种银合金键合丝抗老化性测试装置，其特征在于，所述条形凸块(17)的轴端截面形状呈半圆形。

5.根据权利要求1所述的一种银合金键合丝抗老化性测试装置，其特征在于，所述立板(2)上固定安装有电流表(12)与电源(13)，所述第一夹具(3)、电流表(12)、电源(13)...

【技术特征摘要】

1.一种银合金键合丝抗老化性测试装置，包括底座(1)，其特征在于，还包括：

2.根据权利要求1所述的一种银合金键合丝抗老化性测试装置，其特征在于，所述拉升部件包括：

3.根据权利要求1所述的一种银合金键合丝抗老化性测试装置，其特征在于，所述往复部件包括：

4.根据权利要求3所述的一种银合金键合丝抗老化性测试装置，其特征在于，所述条形凸块(17)的轴端截面形状呈半圆形。

5.根据权利要求1所述的一种银合金键合丝抗老化性测试装置，其特征在于，所述立板(2)上固定安装有电流表(12)与电源(13)，所述第一夹具(3)、电流表(12)、电源(13)以及第二夹具(5)依次通过导线(14)电性串联连接。

6.根据权利要求1所述的一种银合金键合丝抗老化性测试装置，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：李盛伟，李妍琼，
申请(专利权)人：深圳中宝新材科技有限公司，
类型：发明
国别省市：