【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及集成电路设计，特别涉及一种电流检测电路。
技术介绍
1、为了保证芯片功能的可用性，通常需要在芯片运行前依靠检测电路对芯片进行检测。在对可靠性要求较高的应用场景中，特别是对一些关键信号，若检测电路因自身原因导致检测错误，则会影响芯片检测结果的可信度，因此，检测电路能够对自身进行有效的自检测显得尤为重要。
2、对于模拟电路而言，芯片中许多电路模块及功能都依赖于基准电路，基准电路的功能正常才能保证其他电路模块的功能正常，因此，检测电路必须能够对基准电路进行检测。
3、在实际应用中，越来越多的片上系统设计中都有针对基准电压的检测电路，但很难看到有针对基准电流进行检测的检测电路，这主要是由于：其一，电流是实时变化的信号，不容易直接进行比较，因此通常会将电流转换为电压后再进行电压比较；其二，若直接对基准电流进行检测，会因为分流效应而影响输出电流的大小。然而，若能对基准电流进行有效检测，则可以有效提高检测结果的可靠性。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种电流检测电路，以至少解决现有检测电路无法对电流进行可靠检测的问题。
2、为解决上述技术问题，本专利技术提供一种电流检测电路，包括：
3、电流复制模块，用于对基准电流进行复制，以得到复制电流；
4、检测模块，用于对复制电流进行短路检测和断路检测，以得到短路检测结果和断路检测结果。
5、可选的，在所述的电流检测电路中，所述电流检测电路还包括自检模块，用于
6、可选的，在所述的电流检测电路中，所述检测模块包括断路检测单元和短路检测单元；所述断路检测单元用于对复制电流进行断路检测；所述短路检测单元用于对复制电流进行短路检测。
7、可选的，在所述的电流检测电路中，所述电流复制模块、所述自检模块和所述断短路检测模块电路相连。
8、可选的，在所述的电流检测电路中，所述电流复制模块包括第一晶体管、第二晶体管、第三晶体管、第四晶体管和第五晶体管；所述第一晶体管的源极、所述第二晶体管的源极和所述第三晶体管的源极均接入电源；所述第一晶体管的漏极接入基准电流，栅极与漏极、所述第二晶体管的栅极和所述第三晶体管的栅极相连；所述第三晶体管的漏极与所述第四晶体管的漏极、所述第四晶体管的栅极和所述第五晶体管的栅极相连；所述第四晶体管的栅极与所述第五晶体管的栅极相连；所述第四晶体管的源极和所述第五晶体管的源极均接地。
9、可选的，在所述的电流检测电路中，所述自检模块包括第六晶体管、第七晶体管、第一开关、第二开关和第三开关；所述第六晶体管的源极和所述第七晶体管的源极均接入电源；所述第六晶体管的漏极与所述第五晶体管的漏极相连，栅极通过所述第一开关与所述第七晶体管的栅极相连；所述第七晶体管的栅极和所述第一开关之间分别通过第二开关接入电源、通过第三开关接地。
10、可选的，在所述的电流检测电路中，所述断路检测单元包括第八晶体管、第九晶体管、第十晶体管、第一电阻和第四开关；所述第八晶体管的源极、所述第九晶体管的源极和所述第十晶体管的源极均接地；所述第八晶体管的漏极与所述第七晶体管的漏极相连，栅极与所述第九晶体管的栅极和所述第十晶体管的栅极相连；所述第九晶体管的漏极与所述第一电阻相连，且栅极与漏极短接；所述第一电阻通过所述第四开关接入电源。
11、可选的，在所述的电流检测电路中，所述短路检测单元包括第十一晶体管、第十二晶体管、第十三晶体管、第二电阻和第五开关；所述第十一晶体管的源极、所述第十二晶体管的源极和第十三晶体管的源极均接入电源；所述第十一晶体管的栅极与所述第七晶体管的栅极相连，漏极与所述第十二晶体管的漏极和所述第二电阻相连；所述第十二晶体管的栅极与所述第十三晶体管的栅极相连，且栅极与漏极短接；所述第二电阻通过所述第五开关接地。
12、可选的，在所述的电流检测电路中，所述电流检测电路还包括结果输出模块，用于根据断路检测结果和短路检测结果得到最终的检测结果并输出。
13、可选的，在所述的电流检测电路中，所述结果输出模块包括第一非门、第二非门和或门；所述第七晶体管的漏极与所述第一非门的输入端相连；所述第十晶体管的漏极和所述第十三晶体管的漏极接入所述第二非门的输入端；所述或门的第一输入端与所述第一非门的输出端相连，第二输入端与所述第二非门的输出端相连，输出端用于输出最终的检测结果。
14、本专利技术提供的电流检测电路，包括：电流复制模块，用于对基准电流进行复制，以得到复制电流；检测模块，用于对复制电流进行短路检测和断路检测，以得到短路检测结果和断路检测结果。通过电流复制模块对基准电流进行复制，不仅能够保证基准电流的原有大小不受影响，还能够使得复制得到的复制电流通过检测模块进行电流检测，由于复制电流的检测结果能够精准反应基准电流的情况，因此该电流检测电路能够实现对基准电流的检测，从而有效提高了检测结果的可靠性，解决了现有检测电路无法对电流进行可靠检测的问题。
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1.一种电流检测电路，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的电流检测电路，其特征在于，所述电流检测电路还包括自检模块，用于对电流检测电路自身进行电流检测，以得到自检结果。
3.根据权利要求2所述的电流检测电路，其特征在于，所述检测模块包括断路检测单元和短路检测单元；所述断路检测单元用于对复制电流进行断路检测；所述短路检测单元用于对复制电流进行短路检测。
4.根据权利要求3所述的电流检测电路，其特征在于，所述电流复制模块、所述自检模块和所述断短路检测模块电路相连。
5.根据权利要求3所述的电流检测电路，其特征在于，所述电流复制模块包括第一晶体管、第二晶体管、第三晶体管、第四晶体管和第五晶体管；所述第一晶体管的源极、所述第二晶体管的源极和所述第三晶体管的源极均接入电源；所述第一晶体管的漏极接入基准电流，栅极与漏极、所述第二晶体管的栅极和所述第三晶体管的栅极相连；所述第三晶体管的漏极与所述第四晶体管的漏极、所述第四晶体管的栅极和所述第五晶体管的栅极相连；所述第四晶体管的栅极与所述第五晶体管的栅极相连；所述第四晶体管的源极和所述第五晶
6.根据权利要求5所述的电流检测电路，其特征在于，所述自检模块包括第六晶体管、第七晶体管、第一开关、第二开关和第三开关；所述第六晶体管的源极和所述第七晶体管的源极均接入电源；所述第六晶体管的漏极与所述第五晶体管的漏极相连，栅极通过所述第一开关与所述第七晶体管的栅极相连；所述第七晶体管的栅极和所述第一开关之间分别通过第二开关接入电源、通过第三开关接地。
7.根据权利要求6所述的电流检测电路，其特征在于，所述断路检测单元包括第八晶体管、第九晶体管、第十晶体管、第一电阻和第四开关；所述第八晶体管的源极、所述第九晶体管的源极和所述第十晶体管的源极均接地；所述第八晶体管的漏极与所述第七晶体管的漏极相连，栅极与所述第九晶体管的栅极和所述第十晶体管的栅极相连；所述第九晶体管的漏极与所述第一电阻相连，且栅极与漏极短接；所述第一电阻通过所述第四开关接入电源。
8.根据权利要求7所述的电流检测电路，其特征在于，所述短路检测单元包括第十一晶体管、第十二晶体管、第十三晶体管、第二电阻和第五开关；所述第十一晶体管的源极、所述第十二晶体管的源极和第十三晶体管的源极均接入电源；所述第十一晶体管的栅极与所述第七晶体管的栅极相连，漏极与所述第十二晶体管的漏极和所述第二电阻相连；所述第十二晶体管的栅极与所述第十三晶体管的栅极相连，且栅极与漏极短接；所述第二电阻通过所述第五开关接地。
9.根据权利要求8所述的电流检测电路，其特征在于，所述电流检测电路还包括结果输出模块，用于根据断路检测结果和短路检测结果得到最终的检测结果并输出。
10.根据权利要求9所述的电流检测电路，其特征在于，所述结果输出模块包括第一非门、第二非门和或门；所述第七晶体管的漏极与所述第一非门的输入端相连；所述第十晶体管的漏极和所述第十三晶体管的漏极接入所述第二非门的输入端；所述或门的第一输入端与所述第一非门的输出端相连，第二输入端与所述第二非门的输出端相连，输出端用于输出最终的检测结果。
...【技术特征摘要】
1.一种电流检测电路，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的电流检测电路，其特征在于，所述电流检测电路还包括自检模块，用于对电流检测电路自身进行电流检测，以得到自检结果。
3.根据权利要求2所述的电流检测电路，其特征在于，所述检测模块包括断路检测单元和短路检测单元；所述断路检测单元用于对复制电流进行断路检测；所述短路检测单元用于对复制电流进行短路检测。
4.根据权利要求3所述的电流检测电路，其特征在于，所述电流复制模块、所述自检模块和所述断短路检测模块电路相连。
5.根据权利要求3所述的电流检测电路，其特征在于，所述电流复制模块包括第一晶体管、第二晶体管、第三晶体管、第四晶体管和第五晶体管；所述第一晶体管的源极、所述第二晶体管的源极和所述第三晶体管的源极均接入电源；所述第一晶体管的漏极接入基准电流，栅极与漏极、所述第二晶体管的栅极和所述第三晶体管的栅极相连；所述第三晶体管的漏极与所述第四晶体管的漏极、所述第四晶体管的栅极和所述第五晶体管的栅极相连；所述第四晶体管的栅极与所述第五晶体管的栅极相连；所述第四晶体管的源极和所述第五晶体管的源极均接地。
6.根据权利要求5所述的电流检测电路，其特征在于，所述自检模块包括第六晶体管、第七晶体管、第一开关、第二开关和第三开关；所述第六晶体管的源极和所述第七晶体管的源极均接入电源；所述第六晶体管的漏极与所述第五晶体管的漏极相连，栅极通过所述第一开关与所述第七晶体管的栅极相连；所述第七晶体管的栅极和所述第一开关之间分别通过第二开关接入电源、...
【专利技术属性】
技术研发人员：褚星梦，夏天，蔡化，陈飞，
申请(专利权)人：成都微光集电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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