一种用于射频电路板测试的射频集束套件制造技术

技术编号:41317966 阅读:23 留言:0更新日期:2024-05-13 14:58
本技术涉及射频器件技术领域,尤其涉及一种用于射频电路板测试的射频集束套件,包括测试转接板套件和可活动测试电缆组件的集束板套件;其中,所述测试转接板套件包括测试转接板和多个分别设于所述测试转接板上的带浮动界面的转接器;所述集束板套件包括集束板和设于集束板上且与带浮动界面的转接器一一对应设置的测试电缆组件;所述集束板可朝测试转接板方向活动设于测试转接板一侧。采用测试转接板连接测试板上的射频信号,配合活动的测试电缆组件集束板,实现了多次频繁测试的功能。并且测试转接板上的连接器采用内外导体浮动的结构设计,确保测试板上的射频信号采集稳定。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及射频器件,尤其涉及一种用于射频电路板测试的射频集束套件


技术介绍

1、随着微波集成电路的发展,满足微波集成电路传输的连接器孕育而生,各种通讯设备向小型化、模块化,高频化等方向发展,为适应整机系统的发展要求,对射频同轴连接器要求具有体积小、重量轻、使用频带宽、可靠性高和制造成本低的微波传输的优点,以及模块化安装的快速连接和分离的优点。

2、现有的射频电路板需要频繁的多次采集其上多处射频信号,目前大多采用单点单次采样的方式,效率较低。


技术实现思路

1、本技术所要解决的技术问题是:提供一种用于射频电路板测试的射频集束套件,实现对被测试件上的多射频点进行同时且多次测试。

2、为了解决上述技术问题,本技术采用的技术方案为:

3、一种用于射频电路板测试的射频集束套件,包括测试转接板套件和可活动测试电缆组件的集束板套件;

4、所述测试转接板套件包括测试转接板和多个分别设于所述测试转接板上的带浮动界面的转接器;

5、所述集束板套件包括集束板和设于集束板本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于射频电路板测试的射频集束套件,其特征在于,包括测试转接板套件和可活动测试电缆组件的集束板套件;

2.根据权利要求1所述的一种用于射频电路板测试的射频集束套件,其特征在于,所述测试转接板安装于被测试件上,所述被测试件上设有定位柱,所述测试转接板和集束板上均设有定位销孔,所述测试转接板位于被测试件与集束板之间。

3.根据权利要求2所述的一种用于射频电路板测试的射频集束套件,其特征在于,所述测试转接板朝向集束板的一端面上设有导向柱,所述集束板上设有与导向柱相适配的导向孔。

4.根据权利要求1所述的一种用于射频电路板测试的射频集束套件,其特征在于,...

【技术特征摘要】

1.一种用于射频电路板测试的射频集束套件,其特征在于,包括测试转接板套件和可活动测试电缆组件的集束板套件;

2.根据权利要求1所述的一种用于射频电路板测试的射频集束套件,其特征在于,所述测试转接板安装于被测试件上,所述被测试件上设有定位柱,所述测试转接板和集束板上均设有定位销孔,所述测试转接板位于被测试件与集束板之间。

3.根据权利要求2所述的一种用于射频电路板测试的射频集束套件,其特征在于,所述测试转接板朝向集束板的一端面上设有导向柱,所述集束板上设有与导向柱相适配的导向孔。

4.根据权利要求1所述的一种用于射频电路板测试的射频集束套件,其特征在于,所述转接器包括第一壳体、第二壳体、接触针弹簧、接触针、接触针套筒、绝缘子组件、弹簧和挡圈;

5.根据权利要求4所述的一种用于射频电路板测试的射频集束套件,其特征在于,所述绝缘子组件由两个呈镜像分布的绝缘子组成,两个绝缘子的相对面设有阶梯槽,两个阶梯槽共同形成第二腔体,所述接触针的尾端具有受限于阶梯槽内的限位台阶,两个接触针的限位台阶所在端面抵接于接触针弹簧的两端面上。

6.根据权利要求5所述的一种用于射频电路板测试的射频集束套件,其特征在于,所述绝缘子为pdfe材质,且呈一带台阶内孔...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄锦陈书义杨松曾金荣蔡璐陈智彬梁文豪
申请(专利权)人:福建迈可博电子科技集团股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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