【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及低电压工作恒压电路。更详细地说,涉及一种例如利用1V左右的低电源电压工作,能够得到0.6V左右的低电压且不受温度拘束而恒定的输出电压、而且温度特性优异的低电压工作恒压电路。
技术介绍
以下的记载是针对相关技术及其问题点的专利技术者的知识,不应该解释为专利技术者自认为这些是现有技术。近年来,存在许多为了小型轻量化而采用低电压驱动方式的产品。在这种产品中,为了驱动产品内的电路需要利用低电压且恒定的基准电压。作为得到恒定的输出电压的电路, 一直以来公知带隙基准电压电路,其构成为建立具有正的温度系数的恒流源,用于抵消电阻中显示的电压的正温度系数和被二极管连接的双极性晶体管的基极发射极间电压的负温度系数。(例如,参照日本专利技术专利第2734964号公报、日本专利技术专利第2745610号公报)。在图12中表示使用以往已知的双极性晶体管的典型带隙基准电压电路。在该基准电压电路中具备:相互共同连接基极且具有单位发射极面积的第一晶体管Q1、具有发射极电阻R1且具有m (m为整数)倍的发射极面积的第二晶体管Q2、被二极管连接的第三晶体管Q3、由对晶体管Ql和Q2进行自偏置且被二极管连接的第四晶体管Q4和第五晶体管Q5构成的电流反射镜电路、以及基极上连接有晶体管Q5的集电极的第六晶6体管。晶体管Q6的集电极借助电阻R2驱动晶体管Q3并成为输出。由于第三晶体管Q3的基极发射极间电压VBE3具有负温度特性,该第三晶体管Q3的集电极电流I具有正温度特性,故电阻R2两端的温度特性为正。因此,通过串联电阻R2与晶体管Q3,从而正温度系数与负温度系数被抵消,所以能够得到 ...
【技术保护点】
一种低电压工作恒压电路,其具备带隙基准电压电路作为基本构成要素,该带隙基准电压电路包括构成为串联连接电阻和被二极管连接的双极性晶体管并流过恒流的电阻.二极管串联电路, 在该低电压工作恒压电路中设置输出电路,其构成为:和所述电阻.二极管 串联电路并联连接且流过与该电阻.二极管串联电路中流过的电流相同的恒流, 该输出电路具备被二极管连接的MOS晶体管,且构成为通过该MOS晶体管来抵消流过该输出电路的电流的正温度系数。
【技术特征摘要】
JP 2008-8-20 2008-212155;JP 2008-8-20 2008-2121571.一种低电压工作恒压电路,其具备带隙基准电压电路作为基本构成要素,该带隙基准电压电路包括构成为串联连接电阻和被二极管连接的双极性晶体管并流过恒流的电阻·二极管串联电路,在该低电压工作恒压电路中设置输出电路,其构成为和所述电阻·二极管串联电路并联连接且流过与该电阻·二极管串联电路中流过的电流相同的恒流,该输出电路具备被二极管连接的MOS晶体管,且构成为通过该MOS晶体管来抵消流过该输出电路的电流的正温度系数。2. —种低电压工作恒压电路,其具备带隙基准电压电路,该带隙基准 电压电路包括串联连接了 MOS晶体管与被二极管连接的双极性晶体管 的第一串联电路;和串联连接了 MOS晶体管、电阻及被二极管连接的双 极性晶体管的第二串联电路,该带隙基准电压电路对所述第一串联电路的 双极性晶体管的集电极电压与所述第二串联电路的所述电阻的一端的电 压进行比较,并以使第一串联电路的电流与第二串联电路的电流相等的方 式进行控制,该低电压工作恒压电路还具备输出电路,其串联连接第一MOS晶体 管与被二极管连接的第二MOS晶体管,并被控制为流过与在所述第一 串联电路及所述第二串联电路中流过的电流相同的恒流,从所述第一及第二 MOS晶体管的连接点得到输出电压。3. 根据权利要求1或2所述的低电压工作恒压电路,其特征在于, 适当设定构成所述输出电路的所述被二极管连接的MOS晶体管的宽度W与长度L之比,且该MOS晶体管具有所希望的温度特性。4. 根据权利要求2所述的低电压工作恒压电路,其特征在于, 构成所述第一串联电路的双极性晶体管的并联连接数目与构成第二串联电路的双极性晶体管的并联连接数目不同。5. 根据权利要求1 4中任意一项所述的低电压工作恒压电路,其特 征在于,所述带隙基准电压电路由差动放大电路与第一 第三串联电路构成,所述差动放大电路由第一MOS晶体管、 一对第二MOS晶体管、以及 由MOS晶体管与被二极管连接的MOS晶体管构成且栅极彼此之间连接的 另一对第三MOS晶体管构成,所述第一 MOS晶体管的源极连接电源电压端子,漏极共同连接所述 一对第二MOS晶体管的源极,该一对第二MOS晶体管的漏极分别连接所 述另一对第三MOS晶体管的漏极,所述另一对第三MOS晶体管的源极都 接地,在所述第一串联电路中,串联连接MOS晶体管与被二极管连接的双 极性晶体管,所述MOS晶体管的源极连接电源电压端子,漏极连接所述 被二极管连接的双极性晶体管的集电极,该被二极管连接的双极性晶体管 的发射极接地,在所述第二串联电路中,串联连接MOS晶体管、电阻和被二极管连 接的双极性晶体管,所述MOS晶体管的源极连接所述电源电压端子,漏 极连接所述电阻的一端,该电阻的另一端连接所述被二极管连接的双极性 晶体管的集电极,该晶体管的发射极接地,在所述第三串联电路中,串联连接第一 MOS晶体管与第二 MOS晶体 管,所述第一 MOS晶体管的源极连接电源电压端子,漏极连接所述第二 MOS晶体管的漏极,该第二MOS晶体管的源极接地,构成所述第一串联电路的所述被二极管连接的双极性晶体管的集电 极连接构成所述差动放大电路的所述一对第二 MOS晶体管的其中一个 MOS晶体管的栅极,构成所述第二串联电路的所述电阻的一端连接构成所述差动放大电 路的所述一对第二MOS晶体管中的另一个MOS晶体管的栅极,构成所述第三串联电路的所述第一 MOS晶体管与构成所述差动放大 电路的所述第一 MOS晶...
【专利技术属性】
技术研发人员:长谷川和男,
申请(专利权)人:三洋电机株式会社,三洋半导体株式会社,
类型:发明
国别省市:JP[日本]
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