【技术实现步骤摘要】
本技术涉及光通信测试，具体为一种用于sfp光模块批量老化测试的装置。
技术介绍
1、光模块由光电子器件、功能电路和光接口等组成，光电子器件包括发射和接收两部分，而sfp光模块是sfp封装的热插拔小封装模块，最高速率可达10.3g，接口为lc，sfp光模块主要由激光器构成，sfp分类可分为速率分类、波长分类、模式分类，由于光模块在生产调试前都需要经过老化测试，以保证光模块产品出厂后的工作稳定。测试过程通常会在不同温度条件下，对光模块通电后测试各个参数，例如电流、电压、光功率、消光比及灵敏度等等，只有各项指标满足要求后，光模块产品才能正常出厂销售，因此光模块产品的老化非常重要。
2、常见的老化测试装置一般均通过托架将sfp光模块固定在其内部，再将托架整体放入老化测试装置的内部进行不同温度下的老化检测，但这种方式由于在将sfp光模块安装在托架内部时均通过螺丝或卡板进行固定，导致整个过程费时费力，且由于托架均为插入或放入测试装置的内部，限位不牢靠、容易脱落，导致其在受热时传导不均匀，进而影响测试的精准度，不能满足老化测试装置的工作要求，为此提出一种用于sfp光模块批量老化测试的装置。
技术实现思路
1、(一)解决的技术问题
2、针对现有技术的不足，本技术提供了一种用于sfp光模块批量老化测试的装置，以解决上述的技术问题。
3、(二)技术方案
4、为实现上述的目的，本技术提供如下技术方案：一种用于sfp光模块批量老化测试的装置，包括测试机箱体，
5、优选的，所述传动连杆的外侧均为斜向装设，所述轴柱的顶端与传动连杆的外侧倾斜位置固定连接，可使得轴柱带动托架进行左右的锥形往复摆动，进而可提升sfp光模块老化测试时受热的均匀性，提高了测试的精准度。
6、优选的，所述c形支架的底部中间位置插设有拉杆，所述拉杆的顶端安装有压板，所述压板的顶部铺设有橡胶垫，提升了对sfp光模块的防护质量，避免了对sfp光模块表面插设损伤。
7、优选的，所述压板的底部四角均固定连接有弹簧，所述弹簧的底端均与c形支架的对应位置固定连接。
8、优选的，所述卡接座的内部右侧旋接有螺杆，所述螺杆的外部下侧通过轴承套设有限位夹板，所述卡接座和限位夹板的内部左侧均开设有滑槽。
9、优选的，所述卡接座和限位夹板的前后两侧右部均通过轴承活动连接有铰接连杆，且铰接连杆均为交叉设置，所述滑槽的内部均插设有横插杆，且横插杆的外端均与铰接连杆的对应端相连接。
10、(三)有益效果
11、与现有技术相比，本技术提供了一种用于sfp光模块批量老化测试的装置，具备以下有益效果：
12、1、该用于sfp光模块批量老化测试的装置，通过电机带动传动连杆和轴柱的转动，从而可通过方形安装框的配合下使得轴柱带动托架进行左右的锥形往复摆动，进而可提升sfp光模块老化测试时受热的均匀性，提高了测试的精准度；
13、2、该用于sfp光模块批量老化测试的装置，通过将sfp光模块的两端分别插入c形支架和卡接座、限位夹板内部后，再转动螺杆并在铰接连杆和横插杆的配合下使得限位夹板将sfp光模块夹紧，从而可完成对sfp光模块的安装，提升了对sfp光模块拆装的速度，提升了测试流程的便捷性。
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1.一种用于SFP光模块批量老化测试的装置，包括测试机箱体(1)，其特征在于：所述测试机箱体(1)的前部上侧通过转轴铰接有密封门(2)，所述测试机箱体(1)的内腔顶部装设有安装盘(3)，所述安装盘(3)的底部中间位置固定安装有电机(4)，所述电机(4)的转子同轴固定连接有传动连杆(5)，所述电机(4)的左右两侧均固定连接有L形连接架(6)，所述L形连接架(6)的内侧底部均通过转轴活动连接有方形安装框(7)，所述方形安装框(7)的内部中间位置通过轴承活动连接有轴柱(8)，所述轴柱(8)的底端固定安装有托架(9)，所述托架(9)的底部后侧装设有C形支架(10)，所述托架(9)的底部前侧安装有卡接座(11)。
2.根据权利要求1所述的一种用于SFP光模块批量老化测试的装置，其特征在于：所述传动连杆(5)的外侧均为斜向装设，所述轴柱(8)的顶端与传动连杆(5)的外侧倾斜位置固定连接。
3.根据权利要求1所述的一种用于SFP光模块批量老化测试的装置，其特征在于：所述C形支架(10)的底部中间位置插设有拉杆(13)，所述拉杆(13)的顶端安装有压板(14)，所述压板(
4.根据权利要求3所述的一种用于SFP光模块批量老化测试的装置，其特征在于：所述压板(14)的底部四角均固定连接有弹簧(15)，所述弹簧(15)的底端均与C形支架(10)的对应位置固定连接。
5.根据权利要求1所述的一种用于SFP光模块批量老化测试的装置，其特征在于：所述卡接座(11)的内部右侧旋接有螺杆(16)，所述螺杆(16)的外部下侧通过轴承套设有限位夹板(12)，所述卡接座(11)和限位夹板(12)的内部左侧均开设有滑槽(17)。
6.根据权利要求5所述的一种用于SFP光模块批量老化测试的装置，其特征在于：所述卡接座(11)和限位夹板(12)的前后两侧右部均通过轴承活动连接有铰接连杆(18)，且铰接连杆(18)均为交叉设置，所述滑槽(17)的内部均插设有横插杆(181)，且横插杆(181)的外端均与铰接连杆(18)的对应端相连接。
...【技术特征摘要】
1.一种用于sfp光模块批量老化测试的装置，包括测试机箱体(1)，其特征在于：所述测试机箱体(1)的前部上侧通过转轴铰接有密封门(2)，所述测试机箱体(1)的内腔顶部装设有安装盘(3)，所述安装盘(3)的底部中间位置固定安装有电机(4)，所述电机(4)的转子同轴固定连接有传动连杆(5)，所述电机(4)的左右两侧均固定连接有l形连接架(6)，所述l形连接架(6)的内侧底部均通过转轴活动连接有方形安装框(7)，所述方形安装框(7)的内部中间位置通过轴承活动连接有轴柱(8)，所述轴柱(8)的底端固定安装有托架(9)，所述托架(9)的底部后侧装设有c形支架(10)，所述托架(9)的底部前侧安装有卡接座(11)。
2.根据权利要求1所述的一种用于sfp光模块批量老化测试的装置，其特征在于：所述传动连杆(5)的外侧均为斜向装设，所述轴柱(8)的顶端与传动连杆(5)的外侧倾斜位置固定连接。
3.根据权利要求1所述的一种用于sfp光模块批量老化测试的装置，其特征在于：所述c形支架(1...
【专利技术属性】
技术研发人员：周平，赵辉东，
申请(专利权)人：深圳市山海光通信技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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