【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光掩模基板制造,特别涉及一种光掩模基板涂胶旋风纹改善装置及方法。
技术介绍
1、在光掩模基板制造工艺中,给方形石英或苏打玻璃基板镀上一层铬膜后,需要在铬膜表面涂布一层光刻胶,以便于进行后续的图形化工艺。光刻胶的不均匀性会导致光刻特征尺寸变化,从而导致器件成品率、质量和性能降低。旋转涂胶,又称为甩胶法或离心法,是指将一定量的光致抗蚀剂溶液滴在基片上形成初始薄膜,然后基片加速旋转到预定速度,在离心力的作用下光致抗蚀剂溶液沿径向外流,液体薄膜厚度不断下降,最终在基片表面形成均匀薄膜。
2、旋涂法对方形基片涂布效果不佳,均匀性差,导致基板利用率低,主要原因是由于方形基片四角处离心力差异产生旋风状变色风纹,旋风状变色风纹的形成是因为在高速旋转时,以基片为参考系,会形成一个与基片转动方向相反的旋转流场,由于方形基片在旋涂过程中四角处光刻胶容易产生堆积,同时基片四角处线速度大于基片中心区域,气流流速要高于中心区域,导致四角处堆积的光刻胶表面的溶剂迅速挥发并干燥,形成旋风状纹路。
3、目前对于方形基片涂胶旋风纹的改
...【技术保护点】
1.一种光掩模基板涂胶旋风纹改善装置,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的光掩模基板涂胶旋风纹改善装置,其特征在于:所述排风口以所述承片台为中心环绕设置,相邻的两个所述排风口之间的距离相等。
3.根据权利要求1所述的光掩模基板涂胶旋风纹改善装置,其特征在于:所述入气孔的孔径小于方形基片的内切圆的直径。
4.根据权利要求3所述的光掩模基板涂胶旋风纹改善装置,其特征在于:所述入气孔的直径比方形基片的内切圆直径小1cm~3cm。
5.根据权利要求1所述的光掩模基板涂胶旋风纹改善装置,其特征在于:所述上盖以所述入气孔为中
...【技术特征摘要】
1.一种光掩模基板涂胶旋风纹改善装置,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的光掩模基板涂胶旋风纹改善装置,其特征在于:所述排风口以所述承片台为中心环绕设置,相邻的两个所述排风口之间的距离相等。
3.根据权利要求1所述的光掩模基板涂胶旋风纹改善装置,其特征在于:所述入气孔的孔径小于方形基片的内切圆的直径。
4.根据权利要求3所述的光掩模基板涂胶旋风纹改善装置,其特征在于:所述入气孔的直径比方形基片的内切圆直径小1cm~3cm。
5.根据权利要求1所述的光掩模基板涂胶旋风纹改善装置,其特征在于:所述上盖以所述入气孔为中心绕设有多个弧形条孔,所述弧形条孔贯穿所述上盖。
6.根据权利要求5所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:段聪,李弋舟,钟选飞,
申请(专利权)人:长沙韶光芯材科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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