【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及氧化镓半导体器件,具体涉及一种结型场效应晶体管及其制备方法和应用。
技术介绍
1、第四代半导体β-ga2o3具有优越的材料属性(例如:超宽的带隙eg(~4.9ev)、较高的理论击穿场强ecr(6mv/cm~8mv/cm)、优异的热稳定性、良好的化学惰性与抗辐照特性等),近年来备受工业界和科学界的关注。尽管β-ga2o3的电子迁移率(300cm2·v-1·s-1)相对偏小,但其baliga优值(~3444)和johnson优值(~2844.4)远高于同类型的宽带隙材料4h-sic和gan,表明β-ga2o3可以提供更稳定更高效的功率切换,很适合应用在高压、高温及大功率电子设备上。此外,由于β-ga2o3是透明导电氧化物(tco),其还可以用作薄膜晶体管的沟道层,可以应用在柔性集成电路领域。目前,β-ga2o3晶体的生长工艺也日趋成熟,科研人员已报道了若干制作流程简易且经济效益高的单晶β-ga2o3生长技术(例如:浮区法、垂直bridgman法和czochralski法等),制备得到的β-ga2o3晶体普遍呈n型,通过控制掺杂
...【技术保护点】
1.一种结型场效应晶体管,其特征在于,组成包括依次层叠设置的p型Si层、SiO2层、β-Ga2O3纳米带和GaSe纳米片;所述β-Ga2O3纳米带远离SiO2层的那一面的一端设置有源电极,另一端设置有漏电极;所述GaSe纳米片设置在β-Ga2O3纳米带远离SiO2层的那一面的中间区域,且与源电极和漏电极相互隔离;所述GaSe纳米片远离β-Ga2O3纳米带的那一面设置有栅电极。
2.根据权利要求1所述的结型场效应晶体管,其特征在于:所述p型Si层的厚度为350μm~500μm。
3.根据权利要求1所述的结型场效应晶体管,其特征在于:所述SiO2层
...【技术特征摘要】
1.一种结型场效应晶体管,其特征在于,组成包括依次层叠设置的p型si层、sio2层、β-ga2o3纳米带和gase纳米片;所述β-ga2o3纳米带远离sio2层的那一面的一端设置有源电极,另一端设置有漏电极;所述gase纳米片设置在β-ga2o3纳米带远离sio2层的那一面的中间区域,且与源电极和漏电极相互隔离;所述gase纳米片远离β-ga2o3纳米带的那一面设置有栅电极。
2.根据权利要求1所述的结型场效应晶体管,其特征在于:所述p型si层的厚度为350μm~500μm。
3.根据权利要求1所述的结型场效应晶体管,其特征在于:所述sio2层的厚度为90nm~120nm。
4.根据权利要求1~3中任意一项所述的结型场效应晶体管,其特征在于:所述β-ga2o3纳米带的厚度为120nm~300nm。
5.根据权利要求1~3中任意一项所述的结型场效应晶体管,...
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