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光束均匀性检测系统和光束均匀性检测方法技术方案

技术编号:41299522 阅读:19 留言:0更新日期:2024-05-13 14:47
本发明专利技术涉及光学技术领域,并公开一种光束均匀性检测系统和光束均匀性检测方法,所述光束均匀性检测系统包括光分割模块、光切换模块以及光采集模块,所述光分割模块用于将待测准直光束分割为多个子光束,并位于所述待测准直光束的传播路径;所述光切换模块与所述光分割模块连接,所述光切换模块用于接收多个所述子光束,并能够控制切换任一所述子光束独立输出;所述光采集模块与所述光切换模块远离所述光分割模块的一端连接,并用于检测每一输出的所述子光束的光功率。在本发明专利技术技术方案中,无需采用机械移动即能实现光束均匀性的测量,并且所述光分割模块能够适应一定范围内的光斑尺寸的大小,适应性广且测量精度更高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光学,特别涉及一种光束均匀性检测系统和光束均匀性检测方法


技术介绍

1、测试光源均匀性是图像传感器或者相机性能测试之前的重要环节之一。在相关技术中,为了实现大面积光源均匀性的检测,通常采用导轨带动多个测试单元移动来实现光斑面多点采集,但在检测过程中,多个测试单元的微小转角和位移过程中带来的不稳定性以及测量单元之间的准确度差异可能会带来光斑测量的不确定度,进而增大测量误差,降低测量精度。


技术实现思路

1、本专利技术的主要目的是提供一种光束均匀性检测系统,旨在提高光束均匀性的测量精度。

2、为实现上述目的,本专利技术提出的光束均匀性检测系统,包括:

3、光分割模块,所述光分割模块用于将待测准直光束分割为多个子光束,并位于所述待测准直光束的传播路径;

4、光切换模块,所述光切换模块与所述光分割模块连接,所述光切换模块用于接收多个所述子光束,并能够控制切换任一所述子光束独立输出;

5、以及光采集模块,所述光采集模块与所述光切换模块远离所述光分割模块的一本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光束均匀性检测系统,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的光束均匀性检测系统,其特征在于,所述光束均匀性检测系统包括第一光路通道模块和第二光路通道模块,所述第一光路通道模块的一端与所述光分割模块连接,所述第一光路通道模块的另一端与所述光切换模块连接,并用于接收多个所述子光束;所述第二光路通道模块的一端与所述光切换模块远离所述第一光路通道模块的一端连接,所述第二光路通道模块的另一端与所述光采集模块连接,并用于输出任一所述子光束。

3.如权利要求2所述的光束均匀性检测系统,其特征在于,所述第一光路通道模块包括多个光路通道子模块,多个所述光路通道子模块的两端...

【技术特征摘要】

1.一种光束均匀性检测系统,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的光束均匀性检测系统,其特征在于,所述光束均匀性检测系统包括第一光路通道模块和第二光路通道模块,所述第一光路通道模块的一端与所述光分割模块连接,所述第一光路通道模块的另一端与所述光切换模块连接,并用于接收多个所述子光束;所述第二光路通道模块的一端与所述光切换模块远离所述第一光路通道模块的一端连接,所述第二光路通道模块的另一端与所述光采集模块连接,并用于输出任一所述子光束。

3.如权利要求2所述的光束均匀性检测系统,其特征在于,所述第一光路通道模块包括多个光路通道子模块,多个所述光路通道子模块的两端分别连接所述光分割模块和所述光切换模块。

4.如权利要求3所述的光束均匀性检测系统,其特征在于,所述光路通道子模块为单模尾纤插芯;

5.如权利要求1所述的光束均匀性检测系统,其特征在于,所述光切换模块为光开关,所述光开关具有多个光输...

【专利技术属性】
技术研发人员:胡婉君颜林肖鹏田文章马四光
申请(专利权)人:季华实验室
类型:发明
国别省市:

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