【技术实现步骤摘要】
本技术涉及天线试验设备，具体是一种透波高低温试验装置。
技术介绍
1、卫星/雷达通信系统中的pim干扰(无源互调，即passive intermodulation)，从来源讲为两种无源非线性，一种是材料非线性，另一种则是接触非线性。而不同热膨胀系数器件接触在高低温环境下产生的形变不同导致接触面发生变化从而造成接触非线性的恶化，进而导致pim产物发生剧烈变化，对接收通道产生严重影响。
2、对于收发共用天线，在外界温度冷热交变环境下,天线结构出现热应力和热膨胀现象，热变形引起的天线结构变化则成为重要的pim源。因此产品无源互调在高低温测试条件下的测试实验变得重要，通过测试了解通信系统在高低温环境下无源互调产物的变化规律进而在研发中采取抑制措施，确保在极端温变状态下整个通信系统正常工作。
3、现有的高低温试验设备中，被测通信设备在试验腔体中发射电磁波不能被外界接收，也不能接收到来自外部的电磁波信号，不能用于无源互调测试环境，因此，以往的无源互调测试均在常温下进行，不能全面考核其在高低温环境下的性能。
技术实现思路
1、本技术的目的在于提供一种透波高低温试验装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
2、为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：
3、一种透波高低温试验装置，包括试验腔体，所述试验腔体一侧通过管道连接有温控箱，所述温控箱与所述试验腔体分离布置；
4、所述试验腔体包括一端开口的壳体以及与所述壳体开口处转动连接的密封门，所述
5、作为本技术进一步的方案：所述试验腔体上设有进风口、出风口，所述进风口与所述温控箱之间连接有进风管道，所述出风口与所述温控箱之间设有回风管道。
6、作为本技术进一步的方案：所述温控箱为高低温机组，所述高低温机组上设有温控面板。
7、作为本技术进一步的方案：所述进风管道、回风管道下端设有管道支架。
8、作为本技术进一步的方案：所述进风管道、回风管道外均包裹有透波保温层。
9、作为本技术进一步的方案：所述试验腔体位于试验腔体支撑平台上，所述试验腔体支撑平台一侧设有操作台，所述试验腔体的密封门位于试验腔体靠近操作台的一侧。
10、作为本技术进一步的方案：所述外壳体内侧设有内壳体，所述保温层位于所述内壳体与所述外壳体之间，所述外壳体、保温层、内壳体均采用透波材质。
11、作为本技术进一步的方案：所述密封门一端通过铰链与所述壳体转动连接，所述密封门远离铰链的一端设有锁紧把手。
12、与现有技术相比，本技术的有益效果是：本技术包括透波试验腔体和高低温机组组成，并且采用分体式布局，即透波高低温试验腔体与高低温机组之间有一定免干扰安全距离隔开，可以避免高低压机组对试验腔体的影响，同时，本申请的试验腔体为透波材质，被测设备置于上述透波高低温试验腔体中，可以进行全方位的电磁波发射和接收测试工作而不受干扰，能够满足被测件对高低温测试环境的要求：即同时一边进行高低温环境温度变化一边在暗室中进行通信测试，二者同时进行，为高低压环境下的无源互调测试提供的保障。
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1.一种透波高低温试验装置，包括试验腔体(1)，其特征在于，所述试验腔体(1)一侧通过管道连接有温控箱(2)，所述温控箱(2)与所述试验腔体(1)分离布置；
2.根据权利要求1所述的一种透波高低温试验装置，其特征在于，所述试验腔体(1)上设有进风口(15)、出风口(16)，所述进风口(15)与所述温控箱(2)之间连接有进风管道(3)，所述出风口(16)与所述温控箱(2)之间设有回风管道(4)。
3.根据权利要求1或2所述的一种透波高低温试验装置，其特征在于，所述温控箱(2)为高低温机组，所述高低温机组上设有温控面板。
4.根据权利要求2所述的一种透波高低温试验装置，其特征在于，所述进风管道(3)、回风管道(4)下端设有管道支架(5)。
5.根据权利要求2所述的一种透波高低温试验装置，其特征在于，所述进风管道(3)、回风管道(4)外均包裹有透波保温层。
6.根据权利要求1所述的一种透波高低温试验装置，其特征在于，所述试验腔体(1)位于试验腔体支撑平台(6)上，所述试验腔体支撑平台(6)一侧设有操作台(7)，所述试验腔体(1
7.根据权利要求1所述的一种透波高低温试验装置，其特征在于，所述外壳体(11)内侧设有内壳体(18)，所述保温层(17)位于所述内壳体(18)与所述外壳体(11)之间，所述外壳体(11)、保温层(17)、内壳体(18)均采用透波材质。
8.根据权利要求1所述的一种透波高低温试验装置，其特征在于，所述密封门(12)一端通过铰链(19)与所述壳体转动连接，所述密封门(12)远离铰链(19)的一端设有锁紧把手(13)。
...【技术特征摘要】
1.一种透波高低温试验装置，包括试验腔体(1)，其特征在于，所述试验腔体(1)一侧通过管道连接有温控箱(2)，所述温控箱(2)与所述试验腔体(1)分离布置；
2.根据权利要求1所述的一种透波高低温试验装置，其特征在于，所述试验腔体(1)上设有进风口(15)、出风口(16)，所述进风口(15)与所述温控箱(2)之间连接有进风管道(3)，所述出风口(16)与所述温控箱(2)之间设有回风管道(4)。
3.根据权利要求1或2所述的一种透波高低温试验装置，其特征在于，所述温控箱(2)为高低温机组，所述高低温机组上设有温控面板。
4.根据权利要求2所述的一种透波高低温试验装置，其特征在于，所述进风管道(3)、回风管道(4)下端设有管道支架(5)。
5.根据权利要求2所述的一种透波高低温试验装置，其特征在...
【专利技术属性】
技术研发人员：马学焕，赵帅，邱彪，葛玲，于世杰，孙刚，王传求，陈宇鹏，何世安，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第十六研究所，
类型：新型
国别省市：
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