一种具有杂光消除功能的荧光检测光路结构制造技术

技术编号:41296200 阅读:8 留言:0更新日期:2024-05-13 14:45
本技术公开了一种具有杂光消除功能的荧光检测光路结构,包括光路底座,光路底座内部有第一光路通道和第二光路通道,第一光路通道和第二光路通道垂直且连通设置,第一光路通道与第二光路通道的连接处安装有分光片,分光片后方的通道侧壁上设有波浪形结构的消光凹纹;第一光路通道内部依次安装有光源支架和透镜支架,透镜支架位于光源支架与分光片之间;第二光路通道内部依次安装有直角反射棱镜、滤光片支架以及接收器,直角反射棱镜和滤光片支架位于分光片的两侧。本技术可以消除掉穿透分光片的杂光,避免杂光被光路通道的内壁反射;可以产生两种不同波长的激发光,两种激发光都可以照射到待测样品,提高检测效率以及应用范围。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种具有杂光消除功能的荧光检测光路结构,属于荧光检测。


技术介绍

1、恒温扩增荧光检测仪广泛应用于生物医学研究和临床诊断领域,它通过恒定的温度控制和荧光信号检测,实现对dna扩增反应的监测和分析。

2、恒温扩增荧光检测仪的工作原理如下:首先,将待扩增的dna样本与引物、核酸酶、缓冲液等反应物混合均匀,形成扩增反应体系。然后,将反应体系置于恒温扩增荧光检测仪中,启动恒温控制系统,设定所需的温度。恒温控制系统会根据设定的温度值,通过加热或冷却模块,将反应体系的温度稳定在设定值附近。同时,荧光信号检测系统会启动光源,产生激发光,并通过滤光片选择性地过滤掉激发光和散射光,只保留荧光信号。光电传感器会接收荧光信号,并将其转换成电信号。数据处理系统会对荧光信号的强度和变化进行实时记录和分析,从而获得dna扩增反应的结果。

3、传统恒温扩增荧光检测仪的光路结构普遍存在不足:

4、穿透分光片的杂光,会被光路通道的内壁反射,进而对检测结果产生不利影响,影响检测精度;

5、采用单光路结构,不适用于待测样品不同波段的光谱检测,导致其检测项目单一,限制了其检测效率以及应用范围。

6、综上可知,现有技术在实际使用上显然存在不便与缺陷,所以有必要加以改进。


技术实现思路

1、本技术针对
技术介绍
中的不足,提供一种具有杂光消除功能的荧光检测光路结构,可以消除掉穿透分光片的杂光,避免杂光被光路通道的内壁反射而对检测结果产生不利影响;可以产生两种不同波长的激发光,两种激发光都可以照射到待测样品,可以提高检测效率以及应用范围。

2、为解决以上技术问题,本技术采用以下技术方案:

3、一种具有杂光消除功能的荧光检测光路结构,包括光路底座,光路底座内部有第一光路通道和第二光路通道,第一光路通道和第二光路通道垂直且连通设置,第一光路通道与第二光路通道的连接处安装有分光片,分光片后方的通道侧壁上设有波浪形结构的消光凹纹;

4、第一光路通道内部依次安装有光源支架和透镜支架,透镜支架位于光源支架与分光片之间;第二光路通道内部依次安装有直角反射棱镜、滤光片支架以及接收器,直角反射棱镜和滤光片支架位于分光片的两侧。

5、进一步地,光源支架内部分别安装有一个光源。

6、进一步地,分光片与光源出射光束的夹角为45度。

7、进一步地,透镜支架内部安装有第一滤光片和透镜,第一滤光片和透镜的轴线呈共线设置。

8、进一步地,第一滤光片位于透镜支架靠近光源的端部内,透镜位于透镜支架远离光源的端部内。

9、进一步地,滤光片支架内部安装有第二滤光片。

10、进一步地,第一光路通道的数量为两个,两个第一光路通道呈并排设置,两个第一光路通道内安装有相同的部件。

11、进一步地,第二光路通道内部安装有左右对称设置的直角反射棱镜、分光片、滤光片支架以及接收器。

12、本技术采用以上技术方案后,与现有技术相比,具有以下优点:

13、本技术通过在分光片后方的通道侧壁上设有波浪形结构的消光凹纹,波浪形结构的消光凹纹可以消除掉穿透分光片的杂光,避免杂光被光路通道的内壁反射,进而对检测结果产生影响。

14、本技术采用左右对称的双光路结构,可以在一个仪器的机构里同时安装两种光源、分光片以及滤光片,以产生两种不同波长的激发光,两种激发光都可以照射到待测样品,且左右两个光路隔绝,检测结果互不干涉、互不影响,可以提高检测效率,可以在一个机器上完成两种检测,大大降低了使用成本。

15、下面结合附图和实施例对本技术进行详细说明。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种具有杂光消除功能的荧光检测光路结构,其特征在于:包括光路底座(1),光路底座(1)内部有第一光路通道(2)和第二光路通道(3),第一光路通道(2)和第二光路通道(3)垂直且连通设置,第一光路通道(2)与第二光路通道(3)的连接处安装有分光片(5),分光片(5)后方的通道侧壁上设有波浪形结构的消光凹纹(4);

2.如权利要求1所述的一种具有杂光消除功能的荧光检测光路结构,其特征在于:光源支架(6)内部分别安装有一个光源(7)。

3.如权利要求2所述的一种具有杂光消除功能的荧光检测光路结构,其特征在于:分光片(5)与光源(7)出射光束的夹角为45度。

4.如权利要求1所述的一种具有杂光消除功能的荧光检测光路结构,其特征在于:透镜支架(8)内部安装有第一滤光片(9)和透镜(10),第一滤光片(9)和透镜(10)的轴线呈共线设置。

5.如权利要求4所述的一种具有杂光消除功能的荧光检测光路结构,其特征在于:第一滤光片(9)位于透镜支架(8)靠近光源(7)的端部内,透镜(10)位于透镜支架(8)远离光源(7)的端部内。

6.如权利要求1所述的一种具有杂光消除功能的荧光检测光路结构,其特征在于:滤光片支架(11)内部安装有第二滤光片(12)。

7.如权利要求1所述的一种具有杂光消除功能的荧光检测光路结构,其特征在于:第一光路通道(2)的数量为两个,两个第一光路通道(2)呈并排设置,两个第一光路通道(2)内安装有相同的部件。

8.如权利要求7所述的一种具有杂光消除功能的荧光检测光路结构,其特征在于:第二光路通道(3)内部安装有左右对称设置的直角反射棱镜(14)、分光片(5)、滤光片支架(11)以及接收器(13)。

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【技术特征摘要】

1.一种具有杂光消除功能的荧光检测光路结构,其特征在于:包括光路底座(1),光路底座(1)内部有第一光路通道(2)和第二光路通道(3),第一光路通道(2)和第二光路通道(3)垂直且连通设置,第一光路通道(2)与第二光路通道(3)的连接处安装有分光片(5),分光片(5)后方的通道侧壁上设有波浪形结构的消光凹纹(4);

2.如权利要求1所述的一种具有杂光消除功能的荧光检测光路结构,其特征在于:光源支架(6)内部分别安装有一个光源(7)。

3.如权利要求2所述的一种具有杂光消除功能的荧光检测光路结构,其特征在于:分光片(5)与光源(7)出射光束的夹角为45度。

4.如权利要求1所述的一种具有杂光消除功能的荧光检测光路结构,其特征在于:透镜支架(8)内部安装有第一滤光片(9)和透镜(10),第一滤光片(9)和透镜(10...

【专利技术属性】
技术研发人员:夏凯敏李文尧于兆祥曹景成孙志平
申请(专利权)人:山东恒美电子科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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